Главная
Продукт
Сканирующий электронный микроскоп
DMD‑литографический аппарат без маски
Электронно-лучевой литограф EBL
Ступенчатый инструмент
Текущие решения TEM
Нанометрическая станция
Приложения
Случай применения
Новости компании
Техническая информация
О ZEPTOOLS
О компании
Подбор персонала
Свяжитесь
Контактная информация
Онлайн сообщение
Язык
中文简体
English
Russian
Новости и информация
ИНФОРМАЦИЯ О НОВОСТЯХ
Знание продукта
ZEPTOOLS | Почему усталость металлов «скрыта»? Системный анализ от микроструктуры до инженерного разрушения
Усталость металлических материалов — понятие далеко не новое, однако её долгое время считали «скрытой», не потому, что сам механизм трудно понять, а потому, что процесс её развития нередко протекает при сохранении внешнего вида конструкции. В инженерной практике известно, что металлические детали, подвергаясь циклическим нагрузкам, значительно ниже их предела текучести и даже предела прочности при растяжении, могут разрушаться после достаточного числа циклов; этот факт неоднократно подтверждался многочисленными экспериментами и инженерными случаями.
27
2026
/
02
ZEPTOOLS | Безмолвные свидетельства микромира: криминалистическая наука и восстановление истины под сканирующим электронным микроскопом
В обширной сфере судебной медицины и уголовного расследования, благодаря сформулированному Эдмоном Рокаром «закону обмена веществами», мы хорошо знаем: где бы ни происходил контакт, там непременно остаётся след. Однако по мере того как способы совершения преступлений становятся всё более скрытными, а возможности противодействия расследованию — всё более совершенными, видимые невооружённым глазом макроскопические улики нередко намеренно уничтожаются или маскируются; в таких случаях поиск истины вынужден выходить за пределы зрительного восприятия и переноситься в микроскопический, а порой даже наноразмерный диапазон.
06
ZEPTOOLS | «Парадокс разрешения» за литографией: почему чем короче длина волны света, тем лучше — не всегда?
В сфере производства полупроводников и микро‑ и нанообработки «разрешение» — едва ли не ключевой термин, который не обходится без упоминания в любых обсуждениях технологических процессов. Будь то научные статьи, отраслевые отчёты или публичная популяризация технологий, повышение разрешения нередко прямо связывают с уменьшением длины волны излучения, используемого для экспозиции. Такое представление отнюдь не лишено оснований: в идеальной оптической модели длина волны действительно напрямую определяет минимальный разрешимый размер структуры.
01
ZEPTOOLS | Усталость материалов и трещины: от макроскопических трещин до микроскопических источников образования
В повседневной жизни разрушение материалов часто наступает неожиданно и нередко не сопровождается явными признаками. Многие, вероятно, сталкивались с таким опытом: при многократном изгибании скрепки в первые несколько раз она сохраняет прежнюю прочность, однако при очередном изгибе внезапно ломается. Этот, на первый взгляд простой, процесс на самом деле является типичным проявлением усталостного разрушения материала.
22
ZEPTOOLS| Откуда берутся снежинки: структура и механизмы образования ледяных кристаллов в условиях низких температур — взгляд с помощью микроскопии in situ
Формирование снежинок представляет собой типичный процесс фазового перехода на микро‑ и наноуровне; его суть заключается в том, что молекулы воды в газовой фазе при низких температурах непосредственно подвергаются возгонке и последовательно растут вдоль кристаллической решётки льда. Обычная шестиугольная симметрия снежных кристаллов обусловлена ориентацией кристаллов, определяемой сетью водородных связей в структуре молекул льда, тогда как различия в форме снежинок тесно связаны с температурой и степенью перенасыщения водяным паром в условиях их образования — эта взаимосвязь подтверждена многочисленными экспериментами и метеорологическими наблюдениями. Поскольку начальная стадия зарождения снежных кристаллов протекает чрезвычайно быстро и крайне чувствительна к температуре, её долгое время было трудно стабильно наблюдать на микроскопическом уровне.
20
ZEPTOOLS | Прорыв за пределы статической картины: революционное применение зондов для образцов в режиме in situ в электронной микроскопии
Появление технологии электронной микроскопии существенно расширило границы человеческого познания, позволив наблюдать микромир с разрешением на уровне атомов. Однако традиционные методы электронной микроскопии долгое время были ограничены высоким вакуумом и статическими условиями; учёные получали лишь «посмертные» изображения материалов до и после реакции, не имея возможности проследить их динамическое развитие в реальных эксплуатационных условиях. Появление технологии ин‑ситу образцовых держателей полностью преодолело этот застой: она интегрирует миниатюрную лабораторию непосредственно в верхнюю часть электронного микроскопа, позволяя исследователям в режиме реального времени «снимать» на атомном уровне физико‑химические процессы, что обеспечивает материалоисследования, энергетическую химию и полупроводниковую промышленность незаменимой, высокоточной информационной базой.
13