Центр продуктов

Текущие решения TEM

Серия зондовых образцовых стержней для in situ‑исследований


Серия образцов для испытаний на зондовые системы in situ

Серия образцовых стержней для MEMS‑чипов в исходном положении


Серия образцов для испытаний на микроэлектромеханические системы (MEMS) in situ

Серия стержней для заморозки образцов в исходном состоянии


Серия криогенных образцов для испытаний in situ

Стержень для трёх образцов в исходном положении


Образец для испытаний на три образца in situ

Вращение образцового стержня на 360° в горизонтальной плоскости


Образец для испытаний на горизонтальное вращение на 360° in situ

Стержень образца для трёхмерной реконструкции in situ (самовращение на 360°)


Образец для 3D-реконструкции in situ (самовращение на 360°)

Стержень образца для растяжения в исходном положении


Образец для испытаний на растяжение in situ

Штанга для переноса образцов в вакууме на месте


Образец для испытаний на вакуумную транспортировку in situ

Система предварительного вакуумирования и хранения образцовых стержней


Система предварительной откачки и хранения образцов на образце
< 1 >