Главная
Продукт
Сканирующий электронный микроскоп
DMD‑литографический аппарат без маски
Электронно-лучевой литограф EBL
Ступенчатый инструмент
Текущие решения TEM
Нанометрическая станция
Приложения
Случай применения
Новости компании
Техническая информация
О ZEPTOOLS
О компании
Подбор персонала
Свяжитесь
Контактная информация
Онлайн сообщение
Язык
中文简体
English
Russian
Новости и информация
Знание продукта
Радостная новость! Компания «ZEPTOOLS» вошла в число «Самых инновационно активных предприятий» города Тунлинь.
25 февраля, в период радостного обновления и наступления Нового года по китайскому лунному календарю — Года Дракона, городской комитет КПК и городское правительство Тунлина торжественно провели «Первое заседание нового года», дав старт масштабной кампании по достижению высококачественного развития всего города. На этом мероприятии городской комитет КПК и городское правительство официально опубликовали список «Самых инновационно активных предприятий города Тунлина» на 2025 год. Компания «ZEPTOOLS» была с честью включена в этот список благодаря выдающимся инновационным достижениям в сфере разработки научных приборов, глубокой технологической базе и значительному вкладу в развитие региональной науки и технологий.
25
2026
/
02
ZEPTOOLS | Безмолвные свидетельства микромира: криминалистическая наука и восстановление истины под сканирующим электронным микроскопом
В обширной сфере судебной медицины и уголовного расследования, благодаря сформулированному Эдмоном Рокаром «закону обмена веществами», мы хорошо знаем: где бы ни происходил контакт, там непременно остаётся след. Однако по мере того как способы совершения преступлений становятся всё более скрытными, а возможности противодействия расследованию — всё более совершенными, видимые невооружённым глазом макроскопические улики нередко намеренно уничтожаются или маскируются; в таких случаях поиск истины вынужден выходить за пределы зрительного восприятия и переноситься в микроскопический, а порой даже наноразмерный диапазон.
06
ZEPTOOLS | «Парадокс разрешения» за литографией: почему чем короче длина волны света, тем лучше — не всегда?
В сфере производства полупроводников и микро‑ и нанообработки «разрешение» — едва ли не ключевой термин, который не обходится без упоминания в любых обсуждениях технологических процессов. Будь то научные статьи, отраслевые отчёты или публичная популяризация технологий, повышение разрешения нередко прямо связывают с уменьшением длины волны излучения, используемого для экспозиции. Такое представление отнюдь не лишено оснований: в идеальной оптической модели длина волны действительно напрямую определяет минимальный разрешимый размер структуры.
27
01
ZEPTOOLS | Усталость материалов и трещины: от макроскопических трещин до микроскопических источников образования
В повседневной жизни разрушение материалов часто наступает неожиданно и нередко не сопровождается явными признаками. Многие, вероятно, сталкивались с таким опытом: при многократном изгибании скрепки в первые несколько раз она сохраняет прежнюю прочность, однако при очередном изгибе внезапно ломается. Этот, на первый взгляд простой, процесс на самом деле является типичным проявлением усталостного разрушения материала.
22
ZEPTOOLS| Откуда берутся снежинки: структура и механизмы образования ледяных кристаллов в условиях низких температур — взгляд с помощью микроскопии in situ
Формирование снежинок представляет собой типичный процесс фазового перехода на микро‑ и наноуровне; его суть заключается в том, что молекулы воды в газовой фазе при низких температурах непосредственно подвергаются возгонке и последовательно растут вдоль кристаллической решётки льда. Обычная шестиугольная симметрия снежных кристаллов обусловлена ориентацией кристаллов, определяемой сетью водородных связей в структуре молекул льда, тогда как различия в форме снежинок тесно связаны с температурой и степенью перенасыщения водяным паром в условиях их образования — эта взаимосвязь подтверждена многочисленными экспериментами и метеорологическими наблюдениями. Поскольку начальная стадия зарождения снежных кристаллов протекает чрезвычайно быстро и крайне чувствительна к температуре, её долгое время было трудно стабильно наблюдать на микроскопическом уровне.
20
ZEPTOOLS | Прорыв за пределы статической картины: революционное применение зондов для образцов в режиме in situ в электронной микроскопии
Появление технологии электронной микроскопии существенно расширило границы человеческого познания, позволив наблюдать микромир с разрешением на уровне атомов. Однако традиционные методы электронной микроскопии долгое время были ограничены высоким вакуумом и статическими условиями; учёные получали лишь «посмертные» изображения материалов до и после реакции, не имея возможности проследить их динамическое развитие в реальных эксплуатационных условиях. Появление технологии ин‑ситу образцовых держателей полностью преодолело этот застой: она интегрирует миниатюрную лабораторию непосредственно в верхнюю часть электронного микроскопа, позволяя исследователям в режиме реального времени «снимать» на атомном уровне физико‑химические процессы, что обеспечивает материалоисследования, энергетическую химию и полупроводниковую промышленность незаменимой, высокоточной информационной базой.
13