Категория товаров
Стойка образца для трёхмерной реконструкции с высоким углом наклона в исходном положении
Образец для 3D-реконструкции in situ под большим углом
Образцовый стержень для in situ‑трёхмерной реконструкции с большим углом наклона PicoFemto компании Zeyou Technology — это высококлассный вспомогательный модуль для in situ‑характеризации, совместимый с ведущими трансмиссионными электронными микроскопами и специально разработанный для исследований трёхмерной реконструкции микроструктуры материалов. Благодаря функции α‑поворота столика микроскопа обеспечивается наблюдение образца при больших углах поворота с одновременной регистрацией высокоразрешённых изображений под различными углами наклона, что помогает учёным формировать точные трёхмерные модели микроструктуры образца, преодолевая ограничения традиционной двумерной визуализации. В конструкции использованы образцовые столики из титанового сплава, отличающиеся стабильной конструкцией и низким уровнем дрейфа, что эффективно гарантирует качество и стабильность изображений при наблюдении под большими углами наклона. По запросу заказчика возможно комплектовать устройство различными типами образцовых столиков, подходящими для образцов разных размеров и типов; продукт широко применяется в материаловедении, полупроводниковой отрасли, производстве наноустройств и других областях, предоставляя надёжную и высокоэффективную экспериментальную поддержку для выявления пространственных закономерностей распределения микроструктуры образца и решения сложных задач её структурной характеристики.
Принадлежность к категории:
Описание продукта
Цзэюй Технологии Пико Фемто Стенд для трёхмерной реконструкции образца при больших углах наклона — это высокотехнологичный встроенный инструмент для экспериментальной характеристики, совместимый с популярными трансмиссионными электронными микроскопами и специально разработанный для исследований трёхмерной реконструкции микроструктуры материалов. Благодаря функции α‑наклона микроскопа возможно наблюдение образца при больших углах поворота с одновременной регистрацией высокоразрешённых изображений под различными углами наклона, что помогает учёным формировать точные трёхмерные модели микроструктуры образца, преодолевая ограничения традиционной двумерной визуализации. В конструкции используется образцовая платформа из титанового сплава, обеспечивающая стабильность и низкий уровень дрейфа, что эффективно гарантирует качество и стабильность изображений при наблюдении под большими углами наклона. По запросу заказчика возможна комплектация различными типами образцовых платформ, подходящих для образцов разных размеров и типов; устройство широко применяется в материаловедении, полупроводниковой отрасли, производстве наноустройств и других областях, предоставляя надёжную и высокоэффективную экспериментальную поддержку для выявления пространственных закономерностей распределения микроструктуры образца и решения сложных задач её структурной характеристики.
Название |
Основные параметры |
Основные характеристики |
|
Трёхмерная реконструкция с большим углом наклона (α-наклонение в электронном микроскопе) |
Совместимость |
Термо Фишер, ДЖЕОЛ, Хитачи и др. |
Стойка для образцов, основание стойки для образцов, портативный кейс, столик для образцов, инструментарий и прочие комплектующие |
Материал образцового стола |
Титановый сплав |
||
α-вращение |
±90° (в зависимости от модели полюса электронного микроскопа) |
||
Разрешение |
0.2nm |
||
Значение дрейфа |
≤1,5 нм/мин |
||
Категория образцового стола (дополнительная опция) |
Самонакладная образцовая платформа, образцовая платформа с медной сеткой, образцовая платформа для чипов |
||
Рекомендуемые товары
Получить последнюю версию справочника
Свяжитесь с нами
Телефон:15756003283
Электронная почта:support@zeptools.com
Адрес: провинция Аньхой, город Тунлинь, Электронный парк предпринимательства «Дунши», д. 15