Категория товаров
Микро‑нанозондовый стол ZP3‑4
Электрическая характеристика
Микро‑нанозондовый стол ZP3‑4 позволяет проводить электрическую характеристику образцов и испытательного оборудования на наноуровне.
Принадлежность к категории:
Описание продукта
Микро‑нанозондовый стол ZP3‑4 позволяет проводить электрическую характеристику образцов и испытательного оборудования на наноуровне.
• Параметры продукта
△ Количество зондов: 4 зонда, каждый оснащён трёхосным зондирующим рычагом; степени свободы: каждый зонд приводится в движение независимо (три степени свободы — по осям X, Y и Z);
△ Движение: пьезоэлектрический привод;
△ Скорость шага: 2 мм/с (X, Y, Z);
△ Диапазон перемещения: 20×20 мм (X, Y), 10 мм (Z);
△ Разрешение движения: 1 нм (X, Y), 10 нм (Z);
△ Характеристики зонда: диаметр стержня — 0,51 мм (0,020 дюйма);
• Преимущества продукта
△ Быстро, точно, стабильно
Стенд для микро‑ и нанозондирования ZP3‑4 включает четыре пьезоэлектрических трёхосных зондирующих рычага; каждый из них оснащён одним съёмным электрическим зондовым разъёмом, что позволяет осуществлять макроскопическое перемещение на масштабе миллиметров и микроскопическое — на наноразмерном уровне.
△ Разнообразие сценариев использования
Микро‑нанозондовый стол ZP3‑4 отличается компактной конструкцией, занимает мало места, обладает большим ходом и совместим с различными образцетвердами микроскопов, вакуумными камерами, оптическими стендами и другими рабочими условиями.
△ Совершенные технические решения
Система электрических измерений на зондовой платформе, созданная на основе микронанозондовой платформы ZP3‑4 и металлографического микроскопа Nikon/SR‑Scopel, предоставляет конкретное решение для проведения электрофизических и характеризующих измерений на микромасштабном уровне при макроскопическом перемещении.
△ Интуитивно понятно, удобно
Микро‑нанозондовый стол ZP3‑4 управляется с помощью рукоятки и оснащён многоступенчатой макрорегулировкой скорости, импульсным движением и функцией микроподстройки перемещения. Диапазон скоростей макродвижения составляет от 5 мкм/с до 2 мм/с, шаг импульсного перемещения в одной точке может быть менее 300 нм, а разрешение микроподстройки — менее 1 нм; при работе под микроскопом это обеспечивает более наглядное, удобное и точное управление.
△ Высокая степень интеграции
Электрическая измерительная система для микронанозондовой платформы ZP3‑4 оснащена полноценным оптическим микроскопическим модулем с функциями регулировки яркости, усиления и зума; после подключения к компьютеру она позволяет выполнять такие стандартные операции, как создание снимков, измерение размеров и нанесение аннотаций, а также видеозапись.
Рекомендуемые товары
Получить последнюю версию справочника
Свяжитесь с нами
Телефон:15756003283
Электронная почта:support@zeptools.com
Адрес: провинция Аньхой, город Тунлинь, Электронный парк предпринимательства «Дунши», д. 15