Стенд для растяжения при высоких температурах в режиме SEM

Модули механической прочности на растяжение, модули для работы в высокотемпературной среде

Стенд для растяжения при высоких температурах в режиме in situ, использующий сканирующий электронный микроскоп PicoFemto; данный стенд интегрирует механический модуль растяжения и модуль создания высокотемпературной среды, что позволяет одновременно осуществлять нагрев образца в режиме in situ и проводить испытания на растяжение в сканирующем электронном микроскопе.

Принадлежность к категории:

Консультация:

Описание продукта

Стенд для непрерывного термостатического растяжения при высоких температурах PicoFemto компании Zeyou Technology — это передовое устройство, объединяющее механический модуль растяжения и модуль работы в условиях высоких температур; оно позволяет проводить эксперименты по растяжению образцов в сканирующем электронном микроскопе при их одновременном нагреве. Данная модель использует новое поколение системы термостатического растяжения: нагревательная платформа непосредственно прилегает к образцу, что обеспечивает высокую точность и стабильность температуры.


• Показатели производительности:

▲ Совместимость с указанными моделями сканирующих электронных микроскопов; при наличии функции EBSD — выбор диапазона нагрузок.

▲ Точность датчика силы: ±0,5 % от номинального значения R.o.

▲ Разрешение датчика силы: 0,0032 мкм

▲ Диапазон скоростей растяжения: 0,1 мкм/с — 20 мкм/с

▲ Режимы функций: растяжение, сжатие, трёхточечный изгиб

▲ Габаритные размеры: 178×111×39 (мм)

▲ Максимальное натяжение: 5000 Н

▲ Ход растяжения: 30 мм

▲ Вес испытательного стенда на растяжение: ≤1,7 кг

▲ Дополнительная опция — подогрев


• Примеры применения:

Процесс непосредственного растяжения при помощи EBSD

Ключевое применение сканирующего электронного микроскопа in situ компании «ZEPTOOLS» в исследовании высокотемпературного деформационного поведения сплава Ti65

Применение сканирующего электронного микроскопа в режиме in situ компании «ZEPTOOLS» в исследованиях слоистых микро‑ и наноструктурированных циркониевых металлических стёкол

Применение сканирующего электронного микроскопа в режиме in situ компании «ZEPTOOLS» в исследованиях по замещению сплавов Ni‑Cr‑B‑Si

Примеры применения установки для непосредственного растяжения в режиме СЭМ

Рекомендуемые товары

Получить последнюю версию справочника

Наш сотрудник свяжется с вами в течение 24 часов (в рабочие дни). Если вам потребуются дополнительные услуги, пожалуйста, позвоните по телефону службы поддержки: 400-966-2800
Ocтaвить зaявky