Категория товаров
Наномеханический стол SEM
Наноиндентометр
PicoFemto NI‑100 SEM — наномеханическое измерение силы, интегрирующее наноиндентор в сканирующий электронный микроскоп, что позволяет пользователям проводить in situ‑исследования наноиндентирования прямо в СЭМ.
Принадлежность к категории:
Описание продукта
Наномеханический образцетвердитель для сканирующего электронного микроскопа PicoFemto NI‑100 компании ZEPTOOLS является важным инструментом для изучения деформационных свойств материалов и механизмов микроразрушений; он позволяет точно количественно оценивать механическое поведение материалов на микро- и наноуровне, а также осуществлять визуализацию в режиме in situ с использованием сканирующего электронного микроскопа. Наномеханический образцетвердитель может комплектоваться различными модулями приложения нагрузки: растяжением, сжатием, нанесением отпечатков и др.
• Особенности продукта
▲ Высокая удобность использования
▲ Высокая совместимость и масштабируемость
▲ Доступны различные модули, включая нагревательный и оптический.
▲ Замкнутый контур высокоточных и широкодиапазонных механических измерений
▲ Контроль замкнутого контура на наноразмерном микро‑поступательном столе обеспечивает более высокую точность перемещения.
▲ Доступны различные режимы: вдавливание, царапины, сжатие и другие.
▲ Сверхвысокая стабильность — легко получайте высококачественные видео в режиме реального времени.
• Примеры применения
Процесс раздавливания микросфер на наносиловой платформе
• Технические параметры
Название |
Параметр |
|
Функция |
Вмятина, сжатие, растяжение |
|
Диапазон нагрузки |
100mN |
|
Разрешение датчика силы |
10uN |
|
Время отклика |
50ms |
|
Микрорегулировка стола X/Y |
Режим |
Замкнутое управление |
Маршрут |
100(±20) мкм |
|
Точность |
20nm |
|
Грубая настройка стола X/Y/Z |
Режим |
Разомкнутое управление |
Маршрут |
Ход по осям X и Y — ±10 мм, по оси Z — 10 мм |
|
Минимальный шаг |
≤1nm |
|
Размеры стандартной наносиловой платформы |
130*65*55 мм |
|
Вес голой платформы |
Около 300 г (вдавливание) |
|
Размер образца |
≤30*30 мм |
|
Дополнительный модуль |
Нагрев (до 400℃), подача электричества |
|
• Классические примеры
Сканирующая электронная микроскопия PicoFemto, система наномеханических измерений SEM
Рекомендуемые товары
Получить последнюю версию справочника
Свяжитесь с нами
Телефон:15756003283
Электронная почта:support@zeptools.com
Адрес: провинция Аньхой, город Тунлинь, Электронный парк предпринимательства «Дунши», д. 15