Популярные приложения

Научные исследования

Научные исследования


Разработанные компанией ZEPTOOLS сканирующие электронные микроскопы и системы измерений in situ позволили получить многочисленные значимые результаты в рамках передовых научных проектов.

Решение


Для развития нейроморфных вычислений: технология in situ‑TEM компании «Цзэюй» ускоряет процесс промышленного производства мемристоров на основе Cu₂S

Нейроморфные вычисления, как новая вычислительная парадигма, сталкиваются с ключевой задачей: как с помощью одного материала реализовать разнообразные режимы переключения сопротивления и точно управлять движением ионов, чтобы имитировать сложные функции биологической нервной системы. Традиционные решения опираются на комбинирование материалов с различными характеристиками переключения, однако такой подход повышает сложность системы и затрудняет её интеграцию. Медно‑сульфидные соединения (Cu2‑xS), благодаря своим уникальным слоистым фазовым переходам, представляют собой перспективный кандидат для преодоления этих ограничений.

Ключевая роль стационарного сканирующего электронного микроскопа серии ZEM компании ZEPTOOLS в исследовании низкоуглеродистых хромистых ферросплавов

Мировая металлургическая отрасль сталкивается с серьёзными экологическими вызовами, при этом углеродоёмкий характер производственных процессов является одним из ключевых проблем. Традиционное производство хромистого железа (FeCr) опирается на кокс и уголь в качестве восстановителей; это не только чрезвычайно затратно, но и приводит к значительному углеродному следу — на одну тонну FeCr приходится до 5,5 тонн CO₂‑эквивалента, а совокупные глобальные годовые выбросы достигают 15,5 млн тонн. Данный процесс протекает при высоких температурах 1600–1700 °C, требует энергозатрат порядка 4700 кВт·ч/т, а реакция карботермического восстановления оксида хрома (Cr₂O₃) является эндотермической и требует постоянного подвода энергии.

Технология in situ‑TEM компании Зэюй способствовала тройному прорыву в исследованиях ферроэлектрической отрицательной ёмкости.

В период развития микроэлектронных устройств, когда они вступили в эпоху пост‑Мо́рского закона, проблема энергопотребления превратилась в ключевой вызов, сдерживающий дальнейшую миниатюризацию компонентов. Эффект отрицательной ёмкости в сегнетоэлектрических материалах, благодаря способности преодолеть предел Больцмана и снизить подпороговый наклон до уровня ниже 60 мВ/декада, рассматривается как ключевой путь решения проблемы «энергетической стены» транзисторов и в последние годы привлекает широкое внимание. Согласно модели Ландау, область отрицательной ёмкости в сегнетоэлектриках обладает переходными и нестабильными характеристиками, что делает её прямое экспериментальное наблюдение чрезвычайно сложным; как правило, для получения более значительного падения напряжения приходится последовательно включать дополнительные резисторы или диэлектрические конденсаторы.

Ключевое применение столешечного сканирующего электронного микроскопа серии ZEM компании Цзэюй в характеристике графен‑карбидоазотных композитных материалов

Азот‑допированный графен (N‑doped graphene), выступая в роли безметаллического катализатора или носителя металлических наночастиц, демонстрирует огромный потенциал в таких областях, как электрохимический и фотокаталитический процесс, а также очистка окружающей среды. Его уникальная электронная структура и поверхностные свойства обусловлены введением атомов азота и позволяют существенно улучшать характеристики материала в ключевых электрохимических реакциях, таких как реакция восстановления кислорода (ORR). В настоящее время широко применяются такие распространённые источники азота, как меламин, благодаря его высокому содержанию азота — 66,7%; при этом термическая обработка остаётся основным методом получения азот‑допированного графена. Кроме того, графитовый фазовый карбид азота (g‑C₃N₄), являясь одним из видов карбидов азота, привлекает внимание благодаря своим полупроводниковым свойствам и химической стабильности, что делает его перспективным для фотокаталитического разложения воды и органического синтеза. Однако область его применения в электрохимическом каталитическом процессе пока относительно ограничена; сочетание g‑C₃N₄ с восстановленным оксидом графита (rGO) позволяет объединить преимущества обоих материалов — например, повысить механическую прочность и эффективность переноса заряда — и открывает новые пути для создания высокоэффективных металл‑углеродных каталитических систем.

Практика использования виртуальной ТЭМ‑микроскопии компании Zeyou в исследованиях дефектной инженерии сегнетоэлектрических материалов

Сегнетоэлектрические материалы широко применяются в таких областях, как актуаторы, преобразователи и многослойные керамические конденсаторы; управление их свойствами играет ключевую роль для реализации функциональных возможностей. В настоящее время повышение внешнего вклада сегнетоэлектриков является важным подходом к улучшению их характеристик; среди распространённых стратегий регулирования — инженерия деформаций, инженерия фазовых границ, легирование точечными дефектами и др. Однако, несмотря на широкое использование, легирование точечными дефектами страдает недостаточной термической и полевой стабильностью, что ограничивает его практическое применение.

Технология in situ‑TEM компании Зэюй Технолоджи позволила осуществить прямое наблюдение за динамикой трёхстороннего узла.

Тройные узлы границ зерен (Triple Junctions, TJs), являясь ключевыми структурными элементами, соединяющими соседние границы зерен в поликристаллических материалах, под воздействием термомеханических нагрузок определяют коллективную эволюцию всей сети границ зерен. Благодаря своим уникальным физическим свойствам TJs оказывают глубокое влияние на динамические процессы в поликристаллических материалах. В частности, в ходе пластической деформации, роста зерен и рекристаллизации TJs посредством топологических преобразований координируют динамическую перестройку сети границ зерен; их эффект «тяготения» существенно ограничивает миграцию соседних границ, что делает их центральными участниками микроструктурной эволюции на различных масштабах. Несмотря на достаточно высокую степень развития исследований динамики границ зерен, сложная геометрия TJs и ограничения экспериментальных методов на атомном уровне пока не позволяют полностью раскрыть механизмы их динамики.
< 1...91011...24 > Перейти на стр.