Главная
Продукт
Сканирующий электронный микроскоп
DMD‑литографический аппарат без маски
Электронно-лучевой литограф EBL
Ступенчатый инструмент
Текущие решения TEM
Нанометрическая станция
Приложения
Случай применения
Новости компании
Техническая информация
О ZEPTOOLS
О компании
Подбор персонала
Свяжитесь
Контактная информация
Онлайн сообщение
Язык
中文简体
English
Russian
Новости и информация
ИНФОРМАЦИЯ О НОВОСТЯХ
Знание продукта
Как откалибровать нанопозиционный стол при неточности обратной связи по положению?
В данной статье рассматриваются наиболее распространённые причины неточности обратной связи по положению нанопозиционных столов и предлагается комплекс корректирующих шагов и методов, позволяющих обеспечить точное управление перемещением. Нанопозиционные столы играют ключевую роль в высокоточной инженерии и научных исследованиях. Однако вследствие множества факторов обратная связь по положению таких столов может оказаться неточной. Это не только снижает точность экспериментов, но и может привести к повреждению оборудования или возникновению проблем с качеством в производственных процессах.
28
2024
/
06
Может ли BSE‑детекция в настольном сканирующем электронном микроскопе использоваться для анализа состава?
Размещённый в настольном сканирующем электронном микроскопе (SEM) детектор обратнорассеянных электронов (BSE) благодаря своим уникальным характеристикам изображения играет важную роль в анализе состава материалов. В данной статье подробно рассматриваются преимущества детектора BSE, включая его способность формировать контраст по атомному номеру, высокую скорость получения изображений, низкие требования к подготовке образцов, а также синергетический эффект при совместном использовании с другими аналитическими методами.
27
Анализ степени шероховатости изображений, полученных настольным сканирующим электронным микроскопом
Настоящая статья посвящена исследованию методов анализа шероховатости изображений, полученных с помощью настольного сканирующего электронного микроскопа (SEM), а также их применению в изучении поверхностных свойств материалов. На основе представления основных принципов работы SEM и процесса получения изображений в статье далее рассматривается значение технологий обработки изображений для оценки шероховатости поверхности материалов и предлагаются несколько широко используемых методов количественной оценки шероховатости.
Требуемый уровень вакуума внутри колбы сканирующего электронного микроскопа во время работы
Сканирующий электронный микроскоп (Scanning Electron Microscope, SEM) — это мощный инструмент для анализа поверхности, который использует условия высокого вакуума для получения высококачественных электронных изображений.
25
Чем больше рабочее расстояние у настольного сканирующего электронного микроскопа, тем больше область наблюдения?
Настольный сканирующий электронный микроскоп (Scanning Electron Microscope, SEM) — это высокоразрешающий микроскоп, который использует пучок электронов для сканирования поверхности образца и формирует изображение на основе сигналов, возникающих при взаимодействии образца с электронным пучком. Такой микроскоп широко применяется в материаловедении, биологии и медицине для исследования поверхностной морфологии и микроструктуры образцов.
Как повысить увеличение настольного сканирующего электронного микроскопа
Настольный сканирующий электронный микроскоп (SEM) благодаря компактной конструкции и высокой эффективности получения изображений играет важную роль в таких областях, как материаловедение, биология и нанотехнологии. Однако при эксплуатации пользователи нередко сталкиваются с необходимостью увеличения увеличения для получения изображений более мелких структур.
24