Главная
Продукт
Сканирующий электронный микроскоп
DMD‑литографический аппарат без маски
Электронно-лучевой литограф EBL
Ступенчатый инструмент
Текущие решения TEM
Нанометрическая станция
Приложения
Случай применения
Новости компании
Техническая информация
О ZEPTOOLS
О компании
Подбор персонала
Свяжитесь
Контактная информация
Онлайн сообщение
Язык
中文简体
English
Russian
Новости и информация
ИНФОРМАЦИЯ О НОВОСТЯХ
Знание продукта
Различия между низким и высоким вакуумом в настольном сканирующем электронном микроскопе
Режимы низкого и высокого вакуума в настольном сканирующем электронном микроскопе отличаются следующими основными особенностями:
24
2024
/
06
Как рабочее расстояние влияет на результаты наблюдения при анализе образцов с помощью сканирующего электронного микроскопа?
При анализе образцов на стационарном сканирующем электронном микроскопе (СЭМ) рабочее расстояние является важным параметром; оно определяется как расстояние между последней линзой электронного пучка и поверхностью образца.
21
Столешный сканирующий электронный микроскоп не предъявляет требований к размеру частиц образца.
Платформенный сканирующий электронный микроскоп (SEM), будучи инструментом высокого разрешения для анализа поверхностей, играет важную роль в таких областях, как материаловедение, биология, медицина и нанотехнологии. Однако для обеспечения высококачественного изображения к размерам частиц образца предъявляются определённые требования.
Почему сканирующий электронный микроскоп не может анализировать магнитные порошковые образцы?
Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) — это прибор, который использует взаимодействие электронного пучка с поверхностью образца для генерации различных сигналов, затем осуществляет их детектирование и усиление и, наконец, восстанавливает морфологию поверхности образца на экране дисплея. Однако при исследовании и анализе порошковых образцов, обладающих магнитными свойствами, использование СЭМ сопряжено с рядом присущих ограничений и трудностей, которые в основном проявляются в следующих аспектах:
20
Какие поставщики сканирующих электронных микроскопов представлены на рынке?
Компания «ZEPTOOLS» основана в 2016 году и располагает четырьмя филиалами — в Цзунлине (провинция Аньхой), Пекине, Шанхае и Дунгуане; это высокотехнологичная компания, специализирующаяся на производстве прецизионного оборудования и обладающая полностью собственными правами интеллектуальной собственности. Компания сосредоточена на исследованиях и разработках таких высокоточных приборов, как сканирующие электронные микроскопы, системы измерений in situ, ступенчатые профилометры, зондовые столы и электронно-лучевые литографические установки, тем самым заполняя многочисленные пробелы в отечественной сфере научно‑прецизионных приборов.
Цзэюй Кепо — Каковы стандарты и методы проведения электронно‑микроскопического анализа?
Электронный микроскоп — это прибор, использующий электронный пучок вместо видимого светового пучка для наблюдения и получения изображений; к нему относятся сканирующий электронный микроскоп (SEM), просвечивающий электронный микроскоп (TEM) и просвечивающий сканирующий электронный микроскоп (STEM).