Главная
Продукт
Сканирующий электронный микроскоп
DMD‑литографический аппарат без маски
Электронно-лучевой литограф EBL
Ступенчатый инструмент
Текущие решения TEM
Нанометрическая станция
Приложения
Случай применения
Новости компании
Техническая информация
О ZEPTOOLS
О компании
Подбор персонала
Свяжитесь
Контактная информация
Онлайн сообщение
Язык
中文简体
English
Russian
Новости и информация
ИНФОРМАЦИЯ О НОВОСТЯХ
Знание продукта
Применение настольного сканирующего электронного микроскопа ZEM20 в контроле качества кремниевых пластин и полупроводниковых чипов
По мере стремительного развития полупроводниковой отрасли Китая возрастают требования к характеристике и контролю качества микроструктур кремниевых пластин и чипов. Сканирующий электронный микроскоп ZEM20, разработанный компанией «ZEPTOOLS», благодаря своему выдающемуся разрешению изображения и широкому спектру режимов детектирования сигналов стал идеальным инструментом для анализа микрорельефа и выявления дефектов в полупроводниковой промышленности.
22
2023
/
11
Как расстояние между сканирующим электронным микроскопом и образцом влияет на фокусное расстояние?
Механизм влияния расстояния между сканирующим электронным микроскопом и образцом на фокусное расстояние достаточно сложен. Для его подробного и всестороннего объяснения я излагаю материал с позиций физических принципов, геометрической оптики и факторов, оказывающих влияние; основные положения представлены ниже.
Каким образом получается информация о глубине в сканирующем электронном микроскопе?
Ключевым моментом получения информации о глубине с помощью сканирующего электронного микроскопа является определение трёхмерных пространственных координат каждой точки на поверхности. Основными техническими методами являются метод измерения телесного угла, многоугольная визуализация и технология продольной полевой эмиссии.
Превзойдя границы воображения, отечественный настольный сканирующий электронный микроскоп компании «ZEPTOOLS» приглашает вас открыть тайны микромира!
Являясь высокоразрешающим инструментом для микроскопической визуализации и анализа поверхностей, настольный сканирующий электронный микроскоп компании «ZEPTOOLS» использует технологию электронно‑лучевого зондирования, позволяя получать трёхмерные изображения поверхности образца и чётко отображать структурные особенности и морфологические характеристики на микронном и даже нанометровом масштабе; это — незаменимое высокотехнологичное аналитическое оборудование для исследований микромира.
21
Как правильно ухаживать за настольным сканирующим электронным микроскопом (SEM), чтобы он не подвергался влиянию окружающей среды?
Техническое обслуживание настольного сканирующего электронного микроскопа (SEM) является важным аспектом, обеспечивающим его эксплуатационные характеристики и срок службы. Ниже приведены некоторые рекомендации, направленные на защиту SEM от воздействия окружающей среды.
Каковы различия между просвечивающим электронным микроскопом (ПЭМ) и настольным сканирующим электронным микроскопом (СЭМ)?
Трансмиссионный электронный микроскоп (Transmission Electron Microscope, TEM) и настольный сканирующий электронный микроскоп (Scanning Electron Microscope, SEM) — два распространённых типа электронных микроскопов; они различаются по принципу работы, областям применения и способам получения изображений.