Главная
Продукт
Сканирующий электронный микроскоп
DMD‑литографический аппарат без маски
Электронно-лучевой литограф EBL
Ступенчатый инструмент
Текущие решения TEM
Нанометрическая станция
Приложения
Случай применения
Новости компании
Техническая информация
О ZEPTOOLS
О компании
Подбор персонала
Свяжитесь
Контактная информация
Онлайн сообщение
Язык
中文简体
English
Russian
Новости и информация
ИНФОРМАЦИЯ О НОВОСТЯХ
Знание продукта
Что такое функции автоматической фокусировки и автоматического маркирования в сканирующем электронном микроскопе?
Автоматическая фокусировка и функция автоматического маркирования в сканирующем электронном микроскопе (SEM) являются составной частью современных систем SEM и предназначены для повышения удобства эксплуатации и эффективности анализа.
03
2023
/
11
Ограничения по размеру и типу образцов для настольного сканирующего электронного микроскопа
Столешные сканирующие электронные микроскопы (SEM) обычно имеют определённые ограничения по размеру и типу образцов; хотя эти ограничения варьируются в зависимости от модели и производителя, ниже приведены некоторые общие соображения.
02
Как проводить элементный анализ и спектральный анализ с помощью настольного сканирующего электронного микроскопа?
Настольные сканирующие электронные микроскопы обычно позволяют проводить элементный анализ и спектральный анализ, что зачастую требует использования энергодисперсионного спектрометра.
Влияние размеров и формы образца на параметры сканирующей электронной микроскопии
В сканирующем электронном микроскопе (СЭМ) размеры и форма образца оказывают существенное влияние на параметры настройки и качество изображения.
01
Как в сканирующем электронном микроскопе осуществляется изображение с помощью электронного обратного рассеяния (BSE)
Электронная ретроспективная рассеяние (BSE) — это метод получения изображений при сканирующей электронной микроскопии (SEM), который использует обратнорассеянные электроны, исходящие с поверхности образца, для формирования изображений с высоким контрастом.
Технология электропроводящего покрытия для образцов в сканирующем электронном микроскопе
В сканирующем электронном микроскопе (СЭМ) нанесение проводящего покрытия на образец является распространённой методикой, особенно при работе с изоляционными или непроводящими образцами; это повышает электропроводность пучка электронов, уменьшает эффект зарядки и, таким образом, обеспечивает более высокое качество изображения.
31
10