Как в сканирующем электронном микроскопе осуществляется изображение с помощью электронного обратного рассеяния (BSE)
время：
2023-11-01
автор：
Электронная обратное рассеяние (BSE‑изображение) — это метод получения изображений на сканирующем электронном микроскопе (СЭМ), при котором для формирования высококонтрастного изображения используются электроны, рассеянные назад с поверхности образца. BSE‑изображение обычно применяется для получения информации об атомном составе и кристаллической структуре образца.
Ниже приведены общие этапы проведения электронной обратнорассеивающей съемки в режиме СЭМ:
Подготовка образца: прежде всего необходимо подготовить ваш образец. Образцы могут быть твёрдыми, в виде плёнок, частиц и т. п. Убедитесь, что поверхность образца гладкая, чистая и обладает хорошей электропроводностью.
Настройки сканирующего электронного микроскопа: установите режим получения изображений BSE. Это обычно включает выбор ускоряющего напряжения, соответствующего рабочего расстояния и других сопутствующих параметров.
Загрузка образца: разместите образец на столе для образцов СЭМ и убедитесь, что он надёжно зафиксирован. Как правило, используются проводящие держатели образцов, чтобы обеспечить хорошую электронную проводимость между образцом и электронным пучком в СЭМ.
Настройка параметров: в зависимости от вашего образца настройте параметры СЭМ, включая ток электронного пучка, увеличение и другие.
Получение изображения: с помощью системы манипуляции СЭМ электронный пучок фокусируется на поверхности образца. BSE‑изображение формируется за счёт рассеяния электронов ядрами атомов в образце; таким образом, полученное BSE‑изображение предоставляет информацию о составе образца и его кристаллической структуре.
Анализ изображений: полученные изображения BSE могут использоваться для анализа распределения элементов в образце, кристаллографической текстуры, фазовых превращений и других характеристик. Обычно для обработки и анализа изображений применяется программное обеспечение СЭМ.
Электронная дифракция обратного рассеяния — одна из распространённых методик в сканирующей электронной микроскопии, применяемая для получения детальной информации о образце, особенно в таких областях, как материаловедение и геология. Этот метод позволяет исследователям глубже понять микроструктуру и состав образца.
Вот и всё, что рассказала редакция компании «ZEPTOOLS» о том, как в сканирующем электронном микроскопе осуществлять изображение с помощью электронного обратного рассеяния (BSE). За дополнительной информацией о продукции и ценах на сканирующие электронные микроскопы обращайтесь по телефону 15756003283 (номер указан и в WeChat).
Связанные новости
Свяжитесь с нами сейчас
Высококачественные крепления из нержавеющей стали с заводскими ценами
Свяжитесь с нами
Телефон:15756003283
Электронная почта:support@zeptools.com
Адрес: провинция Аньхой, город Тунлинь, Электронный парк предпринимательства «Дунши», д. 15