Главная
Продукт
Сканирующий электронный микроскоп
DMD‑литографический аппарат без маски
Электронно-лучевой литограф EBL
Ступенчатый инструмент
Текущие решения TEM
Нанометрическая станция
Приложения
Случай применения
Новости компании
Техническая информация
О ZEPTOOLS
О компании
Подбор персонала
Свяжитесь
Контактная информация
Онлайн сообщение
Язык
中文简体
English
Russian
Новости и информация
ИНФОРМАЦИЯ О НОВОСТЯХ
Знание продукта
Зависимость параметров сканирующего электронного микроскопа от времени получения изображений образца и его анализа
Параметры сканирующего электронного микроскопа (СЭМ) и временные соотношения при получении изображений образца и его анализе являются сложными и взаимосвязанными.
23
2023
/
10
Процедура работы с растровым электронным микроскопом и этапы загрузки образцов
Сканирующий электронный микроскоп (SEM) используется для изучения микроструктуры и поверхностной морфологии образцов. Ниже приведены общие этапы работы на сканирующем электронном микроскопе и процедура загрузки образца.
20
Как выполнить металлизацию или карбонизацию образцов для сканирующей электронной микроскопии
Нанесение металлического или углеродного покрытия на образцы для сканирующей электронной микроскопии (СЭМ) позволяет повысить их проводимость, уменьшить накопление зарядов и получить более качественные изображения.
Параметры формирования изображения и функция масштабирования сканирующего электронного микроскопа
Сканирующий электронный микроскоп (SEM) — это мощный инструмент визуализации, позволяющий получать изображения образцов с высоким разрешением.
Чёрная технология in situ‑TEM: интегрированный образцовый стержень MEMS‑STM‑TEM
Метод in situ‑трансмиссионной электронной микроскопии представляет собой способ непрерывного наблюдения и регистрации динамического отклика образца, находящегося внутри электронного микроскопа, на различные внешние возбуждающие воздействия; это одно из перспективных направлений современной науки о характеризации структуры веществ.
19
Как выявлять и устранять артефакты и искажения на изображениях, полученных с помощью сканирующего электронного микроскопа?
На изображениях, полученных с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ), артефакты и искажения могут затруднять правильное наблюдение и анализ образца.