Отраслевые новости-ZEPTOOLS- это научно‑инструментальная фирма

Новости и информация

ИНФОРМАЦИЯ О НОВОСТЯХ

Микроскопические изображения и режимы электронной дифракции в настольном сканирующем электронном микроскопе

Настольный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) — чрезвычайно полезный прибор, позволяющий получать изображения поверхности с высоким разрешением и определять электронные дифракционные картины материалов.

2023

Как выполнить трёхмерную реконструкцию образца настольном сканирующем электронном микроскопе

Для трёхмерной реконструкции образцов, исследуемых на стационарном сканирующем электронном микроскопе (SEM), требуется выполнение нескольких этапов, включающих вращение образца, получение изображений, сбор данных и последующую обработку.

2023

Методы контроля рабочей и образцовой температур в сканирующем электронном микроскопе

Режимы работы сканирующего электронного микроскопа (СЭМ) и методы контроля температуры образца могут различаться в зависимости от конкретных условий. Ниже приведены некоторые распространённые подходы к управлению рабочей температурой СЭМ и температурой образца.

2023

Как проводимость образца в сканирующем электронном микроскопе влияет на параметры изображения?

В сканирующей электронной микроскопии (СЭМ) проводимость образца оказывает существенное влияние на параметры получения изображения. Принцип формирования изображения в СЭМ заключается в направлении электронного пучка на поверхность образца и последующем измерении электронов, отражённых или рассеянных обратно с её поверхности, что позволяет воссоздать изображение.

2023

Как функции вращения и наклона образца в настольном сканирующем электронном микроскопе влияют на результаты изображения?

Настольные сканирующие электронные микроскопы (СЭМ) обычно оснащены функциями вращения и наклона образца, которые могут оказывать влияние на результаты изображения. Ниже приводится информация о том, как эти функции воздействуют на качество изображений.

2023

Как с помощью сканирующего электронного микроскопа наблюдать деформации и движение мелких механических структур?

Для наблюдения деформаций и движений микромеханических структур с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ) требуются определённые экспериментальные подходы и технические приёмы. Ниже приведены несколько шагов и методов, которые помогут вам визуализировать деформации и движения микромеханических структур на СЭМ.

2023

< 1...52 53 54 55 >

Свяжитесь с нами

tel +86-400-966-2800

Телефон:15756003283
Электронная почта:support@zeptools.com
Адрес: провинция Аньхой, город Тунлинь, Электронный парк предпринимательства «Дунши», д. 15

Консультации онлайн +

Лицензия на ведение деятельности

COOKIES

Наш веб-сайт использует файлы cookie и аналогичные технологии, чтобы персонализировать показываемую вам рекламу и помочь вам получить максимальное удовольствие от посещения нашего веб-сайта. Для получения дополнительной информации ознакомьтесь с нашей Политикой конфиденциальности и использования файлов cookie.

COOKIES

необходимый

Эти файлы cookie необходимы для основных функций, таких как оплата. Стандартные файлы cookie невозможно отключить, и они не сохраняют никакой вашей информации.

анализировать

Эти файлы cookie собирают информацию, например о том, сколько людей используют наш сайт или какие страницы популярны, чтобы помочь нам улучшить качество обслуживания клиентов. Отключение этих файлов cookie будет означать, что мы не сможем собирать информацию для улучшения вашего опыта.

Особенность

Эти файлы cookie позволяют веб-сайту обеспечивать расширенную функциональность и персонализацию. Они могут быть установлены нами или сторонними поставщиками, чьи услуги мы добавили на наши страницы. Если вы не разрешите использование этих файлов cookie, некоторые или все эти службы могут работать некорректно.

рекламировать

Эти файлы cookie помогают нам понять, что вас интересует, чтобы мы могли показывать вам релевантную рекламу на других веб-сайтах. Отключение этих файлов cookie будет означать, что мы не сможем показывать вам персонализированную рекламу.