Главная
Продукт
Сканирующий электронный микроскоп
DMD‑литографический аппарат без маски
Электронно-лучевой литограф EBL
Ступенчатый инструмент
Текущие решения TEM
Нанометрическая станция
Приложения
Случай применения
Новости компании
Техническая информация
О ZEPTOOLS
О компании
Подбор персонала
Свяжитесь
Контактная информация
Онлайн сообщение
Язык
中文简体
English
Russian
Новости и информация
ИНФОРМАЦИЯ О НОВОСТЯХ
Знание продукта
Исследование влияния одноразмерных и двойных по размеру частиц SiC на композитный материал на основе магниевого сплава AZ91D с использованием настольного сканирующего электронного микроскопа ZEM20 компании Зэюоу
По мере усиления глобальных требований к энергосбережению, снижению выбросов и охране окружающей среды легкие и высокопрочные магниевые сплавы привлекают всё более пристальное внимание благодаря своим выдающимся комплексным свойствам. Благодаря низкой плотности, высокой удельной прочности и хорошей биосовместимости магниевые сплавы демонстрируют огромный потенциал применения в таких отраслях, как авиация и космонавтика, автомобилестроение, а также электроника и телекоммуникации.
15
2025
/
01
Почему анализ с помощью сканирующего электронного микроскопа важен?
Сканирующая электронная микроскопия — это сокращённое название метода сканирующей электронной микроскопии. Данная спектральная техника представляет собой высокоразрешающую форму визуализации поверхности, основанную на принципах оптической микроскопии.
11
2024
12
Научно‑популярный раздел «Цзэюй» | Ступенчатый индикатор: всесторонний обзор прецизионного инструмента для измерения поверхностей
Во многих сферах промышленного производства и научных исследований точное измерение шероховатости и профиля поверхности объектов является крайне важной задачей. При этом ступенчатые профилометры, являясь специализированными измерительными приборами, играют в этой области незаменимую и ключевую роль.
27
Научно‑популярный раздел «Цзэюй» | Ступенчатый прибор: ключевой инструмент для измерения поверхностной морфологии
Ступенчатые профилометры, являющиеся наиболее широко используемыми приборами для измерения поверхностной рельефности, благодаря своей простоте и комплексности принципа действия, а также удобству эксплуатации, получили широкое распространение как на производственных участках, так и в метрологических лабораториях. В настоящей статье подробно рассматриваются история ступенчатых профилометров, их принцип работы, составные части, типы, а также преимущества и недостатки, что поможет читателю всесторонне ознакомиться с этим важным инструментом промышленных измерений.
26
Научно‑популярный раздел «Цзэюй» | Ступенчатый прибор: углублённое изучение анализа поверхностных характеристик в трибологии
Ступенчатый профилометр является ценным инструментом для анализа поверхностных характеристик в области трибологии. Он обеспечивает чёткое представление о рельефе поверхности в самых разных областях применения, включая медицинские. Непрерывные исследования позволяют постоянно совершенствовать эту технологию и расширять сферу её применения.
25
Цзэюй Кепо | Очень подробно! О принципах, технологиях и достижениях в области сканирующей электронной микроскопии
Сканирующий электронный микроскоп (SEM), будучи мощным инструментом микроскопической характеристики, играет ключевую роль во многих научных областях. В настоящей статье подробно изложены принципы работы SEM, включая взаимодействие электронного пучка с образцом, механизмы генерации и регистрации сигналов, а также основы формирования изображений. Детально рассмотрены его технические особенности — различные режимы получения изображений, факторы, влияющие на разрешение, требования к подготовке образцов и условия эксплуатации. Кроме того, представлены широкие возможности применения SEM в материаловедении, биологии, судебной медицине, археологии и других сферах, а также даны перспективы его дальнейшего развития. Благодаря всестороннему обзору SEM данная работа призвана обеспечить исследователей и специалистов соответствующих областей теоретическими основами и практическими рекомендациями для глубокого понимания и эффективного использования этого метода.
19