По мере стремительного развития автомобилей на новых источниках энергии высокопроизводительные аккумуляторные батареи превращаются в ключевую технологию. В частности, трёхкомпонентные катодные материалы на основе никеля, кобальта и марганца благодаря высокой удельной энергетической плотности и широкому спектру доступных сырьевых ресурсов признаны одними из наиболее перспективных для применения. Благодаря синергетическому эффекту различных металлов эти материалы сочетают в себе высокую емкость, отличную стабильность и низкую стоимость, что делает их идеальным выбором для создания высокоэффективных аккумуляторов.

Для точного регулирования свойств трёхкомпонентных материалов крайне важно глубоко проанализировать внутренние взаимосвязи между их характеристиками и составом, структурой и методами синтеза. Это требует применения передовых методов характеризации материалов, позволяющих на микро‑ и наноуровне чётко отобразить их морфологию, распределение элементов и структурную информацию. Только так можно выявить научные принципы формирования свойств материалов и использовать эти знания для оптимизации технологических процессов и согласования с аккумуляторными системами.

На основе самостоятельно разработанного настольного сканирующего электронного микроскопа ZEM20 компании «ZEPTOOLS» благодаря его высокому разрешению можно провести всесторонний анализ микроструктуры и распределения элементов в трёхкомпонентных материалах. Сверхвысокое разрешение — 5 нм — позволяет чётко визуализировать морфологию, распределение активных элементов и поверхностные дефекты батарейных материалов. Встроенный детектор EDS обеспечивает точное определение распределения элементов на поверхности образца или в его сечении. Функция сканирующей визуализации позволяет системно изучать закономерности изменения состава материалов и их электрохимических свойств.

После изготовления и испытаний аккумулятора с помощью ZEM20 можно оценить степень повреждений катода, анода и электролита, выявить причины отказов или деградации, а также использовать полученные данные для оптимизации конструкции батареи и совершенствования технологических процессов производства, тем самым повышая безопасность и циклический ресурс литий‑ионных аккумуляторов на основе трёхкомпонентных материалов.

В целом, разработанный компанией ZEPTOOLS сканирующий электронный микроскоп ZEM20 благодаря своим выдающимся аналитическим характеристикам оказывает весомую поддержку исследованиям микроструктуры и свойств трёхкомпонентных катодных материалов. Он закладывает прочную основу для повышения эксплуатационных характеристик и оптимизации технологических процессов трикомпонентных аккумуляторов. С широким внедрением ZEM20 ожидается значительный прогресс в области технологий трёхкомпонентных силовых батарей в Китае, что позволит электромобилям достигать более высокой дальности хода и содействовать устойчивому развитию электрифицированного транспорта.

Столешный сканирующий электронный микроскоп ZEM20 компании Цэюй Технолоджи

Компания «Аньхой Цзэюй Технологии» — это научно‑инструментальная фирма, обладающая полностью самостоятельными правами интеллектуальной собственности. С начала 1990‑х годов, когда компания приступила к разработке электронных микроскопов и сопутствующего оборудования, её исследовательская команда неизменно стремится предоставлять высококачественные приборы для нанонаучных исследований. В настоящее время в компании работают… Пико Фемто Серия Система измерений в режиме in situ с использованием ТЭМ 、 Система измерений СЭМ в нативном состоянии 、 Настольный сканирующий электронный микроскоп серии ZEM 、 Ступенчатый измеритель серии JS 、 Нано‑пьезо‑столик 、 Станок для переноса двумерных материалов 、 Пробоночная платформа и низкотемпературная система 、 Линейка с дифракционной решёткой Ряд продуктовых линеек, включая …, привлекли широкое внимание как на внутреннем, так и на международном рынках, заполнив многочисленные пробелы в отечественной сфере научно‑измерительных приборов.