Как избежать явления «термических артефактов» на поверхности образцов в сканирующем электронном микроскопе
время：
2023-12-15
автор：
Явление «термического артефакта» на поверхности образца в сканирующем электронном микроскопе обычно обусловлено высокой энергией электронного пучка. Это явление может приводить к локальному нагреву образца, что влияет на качество изображения и результаты анализа. Ниже приведены некоторые методы, позволяющие избежать или уменьшить термические артефакты:
Низкая энергия электронного пучка: снижение энергии электронного пучка, особенно перед проведением высокоразрешающей визуализации. Снижение энергии электронного пучка позволяет уменьшить потенциальное влияние тепловых артефактов.
Низкая плотность потока электронного пучка: уменьшение плотности потока электронного пучка, то есть количества электронов, проходящих через единицу площади. Это можно достичь путём регулировки яркости пучка или размера пучковых групп.
Режим быстрого сканирования: использование режима быстрого сканирования позволяет сократить время пребывания электронного пучка на поверхности образца, тем самым уменьшая вероятность появления термических артефактов.
Предварительное охлаждение образца: перед проведением сканирования при высоком увеличении образец можно охладить до низкой температуры, чтобы уменьшить его нагрев.
Использование низкотемпературного образцетодержателя: некоторые сканирующие электронные микроскопы оснащены низкотемпературным образцетодержателем, который позволяет поддерживать образец при низкой температуре во время съёмки, тем самым уменьшая тепловые артефакты.
Подготовка образца: перед проведением сканирующей электронной микроскопии необходимо обеспечить высокое качество подготовки образца, избегая чрезмерно крупных неоднородных участков или впадин, чтобы минимизировать локальные потери энергии электронного пучка.
Оптимизация параметров эксперимента: в соответствии с особенностями образца и требованиями эксперимента производится настройка параметров сканирующего электронного микроскопа для достижения высококачественных условий получения изображений.
Термические артефакты — это проблема, требующая тщательной обработки, поскольку они могут приводить к ухудшению качества изображений и ошибкам в анализе. Снижать влияние термических артефактов можно путём грамотного выбора экспериментальных параметров и принятия соответствующих мер предосторожности.
Столешный сканирующий электронный микроскоп ZEM20 компании ZEPTOOLS
Компания «Аньхой Цзэюй Технологии» — это научно‑инструментальная фирма, обладающая полностью самостоятельными правами интеллектуальной собственности. С начала 1990‑х годов, когда была начата разработка электронных микроскопов и сопутствующего оборудования, её исследовательская команда неизменно стремится предоставлять высококачественные приборы для нанонаучных исследований. В настоящее время компания располагает в том числе… Пико Фемто Серия Система измерений в режиме in situ с использованием ТЭМ 、 Система измерений СЭМ в нативном состоянии 、 Настольный сканирующий электронный микроскоп серии ZEM 、 Ступенчатый измеритель серии JS 、 Нано‑пьезо‑столик 、 Станок для переноса двумерных материалов 、 Пробоночная платформа и низкотемпературная система 、 Линейка с датчиком линейного перемещения Продукция, представленная в нескольких линейках компании, пользуется широким признанием как на внутреннем, так и на международном рынках, заполняя многочисленные пробелы в отечественной сфере высокоточных измерительных приборов.
Связанные новости
Свяжитесь с нами сейчас
Высококачественные крепления из нержавеющей стали с заводскими ценами
Свяжитесь с нами
Телефон:15756003283
Электронная почта:support@zeptools.com
Адрес: провинция Аньхой, город Тунлинь, Электронный парк предпринимательства «Дунши», д. 15