Как настроить систему сканирующего электронного микроскопа для изменения глубины и фокальной плоскости?
время：
2023-10-25
автор：
Для настройки системы сканирующего электронного микроскопа с целью изменения фокальной плоскости и глубины резкости обычно необходимо учитывать следующие факторы:
Регулировка фокусировки: Системы сканирующих электронных микроскопов обычно оснащены механизмом фокусировки, позволяющим настраивать фокусное расстояние. С помощью управления фокусировкой можно изменять плоскость фокусировки, благодаря чему различные уровни образца на разных глубинах становятся чётко видимыми. Как правило, это осуществляется либо вручную, либо автоматически.
Рабочее расстояние: рабочее расстояние — это расстояние между поверхностью образца и электронной линзой. Оно влияет на фокальную плоскость и глубину резкости. Для изменения рабочего расстояния может потребоваться корректировка положения образца или линзы. Сведения о том, как выполнить эту настройку, см. в руководстве пользователя сканирующего электронного микроскопа.
Настройки объектива и диафрагмы: Различные настройки объектива и диафрагмы влияют на плоскость резкости и глубину резкости. Фокусное расстояние объектива и размер диафрагмы определяют степень глубины резкости и чёткость изображения. В зависимости от ваших задач выбирайте соответствующие настройки объектива и диафрагмы.
Масштабирование: уровень масштабирования также влияет на плоскость фокусировки и глубину резкости. Более высокий уровень масштабирования, как правило, уменьшает глубину резкости, тогда как более низкий уровень — увеличивает её. Настройте уровень масштабирования, чтобы рассмотреть детали образца в пределах необходимой глубины резкости.
Энергия электронного пучка: Регулирование энергии электронного пучка позволяет изменять глубину проникновения электронов. Различные значения энергии пучка могут использоваться для исследования образца на разных глубинах.
Наклонное наблюдение: если необходимо рассмотреть боковые или наклонные поверхности образца, можно воспользоваться режимом наклонного наблюдения. Это позволяет оценить изменения глубины и фокальной плоскости.
При настройке этих параметров обычно следует действовать осторожно и с большой тщательностью, чтобы обеспечить необходимую глубину резкости и фокальную плоскость.
Вот и всё — редактор компании «ZEPTOOLS» рассказал, как настроить систему сканирующего электронного микроскопа для изменения глубины резкости и фокальной плоскости. За дополнительной информацией о продукции и ценах на сканирующие электронные микроскопы обращайтесь по телефону 15756003283 (номер в WeChat совпадает).
Связанные новости
Свяжитесь с нами сейчас
Высококачественные крепления из нержавеющей стали с заводскими ценами
Свяжитесь с нами
Телефон:15756003283
Электронная почта:support@zeptools.com
Адрес: провинция Аньхой, город Тунлинь, Электронный парк предпринимательства «Дунши», д. 15