В сканирующем электронном микроскопе (СЭМ) многоосное позиционирование образцового столика является важной функцией, позволяющей перемещать и вращать образец в различных направлениях. Ниже приведены некоторые методы, обеспечивающие многоосное позиционирование образцового столика:

1. Многоосевая система привода: в СЭМ‑приборах образцовая стойка обычно оснащается многоосевой системой привода, позволяющей перемещать и вращать образец в различных направлениях. Эти системы могут включать перемещение по осям X, Y и Z, а также вращение вокруг каждой из этих осей.

2. Электропривод: образцовый стержень с электроприводом может перемещаться и вращаться вокруг различных осей под управлением двигателя. Такие электроприводы обычно управляются программным обеспечением сканирующего электронного микроскопа либо дистанционным пультом. Благодаря электроприводу достигается высокая точность и прецизионное позиционирование.

3. Ручная настройка: в некоторых случаях стержень образца также может быть позиционирован по нескольким осям с помощью ручного управления. Для ручной регулировки положения и угла образца по различным осям используются такие устройства, как маховики, кнопки или рукоятки.

4. Заданные координаты и угол: программное управление СЭМ‑микроскопом обычно предусматривает функцию задания предварительно определённых координат и углов. Установив эти параметры, можно быстро позиционировать образец в заданном положении и под нужным углом.

5. Схематическое изображение и маркировка: на образце наносят метки или рисуют схематическое изображение, указывающее оператору, как перемещать зонд образца для достижения заданного положения. Это помогает оператору более точно контролировать позиционирование образца.

6. Запись ключевых позиций: если необходимо многократно возвращаться к одной и той же точке, перед выполнением позиционирования можно зафиксировать координаты или угол ориентации соответствующей позиции. Таким образом, вы сможете в любой момент вернуться к этим местам, не прибегая к повторной настройке.

Многоканальная позиционная система широко применяется в СЭМ и позволяет удовлетворять различные исследовательские и наблюдательные потребности. При использовании функций многоканального позиционирования пользователю следует хорошо ознакомиться с системой управления прибором СЭМ и выполнять операции в соответствии с инструкцией по эксплуатации СЭМ.

Система электроизмерений STM‑TEM в режиме in situ для просвечивающего электронного микроскопа PicoFemto

Компания «Аньхой Цзэюй Технологии» — это научно‑инструментальная фирма, обладающая полностью самостоятельными правами интеллектуальной собственности. С начала 1990‑х годов, когда была начата разработка электронных микроскопов и сопутствующего оборудования, её исследовательская команда неизменно стремится предоставлять высококлассные приборы для нанонаучных исследований. В настоящее время компания располагает в том числе… Пико Фемто Серия Система измерений в режиме in situ с использованием ТЭМ 、 Система измерений СЭМ в нативном состоянии 、 Настольный сканирующий электронный микроскоп серии ZEM 、 Ступенчатый измеритель серии JS 、 Нано‑пьезо‑столик 、 Станок для переноса двумерных материалов 、 Пробоночная платформа и низкотемпературная система 、 Линейка с дифракционной решёткой Продукция, представленная в нескольких линейках компании, пользуется широким признанием как на внутреннем, так и на международном рынках, заполняя многочисленные пробелы в отечественной сфере высокоточных измерительных приборов.