Для обработки непроводящих образцов на стационарном сканирующем электронном микроскопе (SEM) обычно необходимо принять следующие меры, чтобы избежать эффекта зарядки и обеспечить получение высококачественных изображений:

1. Электропроводящее покрытие Наиболее распространённым методом является напыление на поверхность образца крайне тонкого слоя проводящего материала, такого как золото (Au), платина (Pt) или углерод (C). Толщина этого проводящего покрытия составляет от нескольких до нескольких десятков нанометров; оно позволяет уменьшить маскировку мелких деталей поверхности образца, одновременно повышая его электропроводность и предотвращая накопление заряда. Процесс напыления обычно осуществляется с использованием специализированного оборудования для гальванического напыления золота.

2. Сушка на критической точке Для водосодержащих биологических образцов сначала проводят химическую фиксацию и дегидратацию, затем применяют метод критической точечной сушки, чтобы избежать повреждения поверхностной структуры в процессе сушки, после чего выполняют покрытие проводящим слоем.

3. Сублимационная сушка : Другой метод подходит для образцов с высоким содержанием влаги — их замораживают, а затем при вакууме осуществляют сублимацию воды, что позволяет сохранить целостность структуры образца; после этого также требуется проводящая обработка.

4. Режим низкого вакуума Некоторые настольные сканирующие электронные микроскопы поддерживают режим низкого вакуума или режим экологического сканирования, при котором вокруг образца поддерживается определённое количество газа; за счёт нейтрализации заряда, возникающего под воздействием электронного пучка, уменьшается эффект зарядки, что позволяет непосредственно исследовать непроводящие образцы.

5. Контролируемая температурой пробирка : С использованием специальных пробирок можно контролировать температуру образца, уменьшать испарение влаги; это особенно подходит для биологических и органических образцов, снижает повреждение образца электронным пучком и одновременно продлевает время наблюдения.

6. Выборочное напыление Для определённых участков образца можно выполнить выборочное напыление, чтобы минимизировать воздействие на общую структуру образца.

7. Использование токопроводящего клея При закреплении образца на образцетвердителе следует использовать токопроводящий клей, чтобы обеспечить надёжный электрический контакт между образцом и образцетвердителем; это способствует отведению заряда.

8. Снижение параметров электронного пучка При наблюдении можно регулировать ток электронного пучка и ускоряющее напряжение, что позволяет уменьшить накопление заряда на непроводящих образцах; однако это может повлиять на яркость и контрастность изображения.

Обеспечение надлежащего выполнения этих подготовительных этапов позволяет существенно улучшить качество изображений и точность анализа непроводящих образцов в сканирующем электронном микроскопе.

Термостатический сканирующий электронный микроскоп серии ZEM компании ZEPTOOLS

Столешные сканирующие электронные микроскопы серии ZEM компании ZEPTOOLS объединяют ряд собственных инновационных ключевых технологий, сочетая высокое качество изображения с компактностью и удобством эксплуатации, что отвечает требованиям широкого спектра применений. Являясь отечественной линейкой высококлассных столешных сканирующих электронных микроскопов, серия ZEM по таким показателям, как разрешение изображения, удобство работы и степень интеграции системы, достигла уровня международного передового опыта.

Серия приборов ZEM обладает высокой степенью интеграции, гибкостью конфигурации и удобством эксплуатации; её легко освоить даже непрофессионалам. Сопутствующее программное обеспечение охватывает весь рабочий процесс — от импорта образцов и настройки параметров до анализа изображений — обеспечивая эффективность и удобство в одном комплексе. В настоящее время серия ZEM уже продемонстрировала мощные аналитические возможности в таких областях, как новые материалы, возобновляемая энергетика, биомедицина и полупроводниковая промышленность, помогая учёным наглядно исследовать тайны микро‑ и наномира. Благодаря выдающемуся соотношению цены и качества устройства серии ZEM стали одним из наиболее популярных решений, широко применяемых в университетах, научно‑исследовательских институтах и предприятиях.

Сканирующий электронный микроскоп, отечественный сканирующий электронный микроскоп, сколько стоит один сканирующий электронный микроскоп, настольный сканирующий электронный микроскоп, принцип работы трансмиссионного электронного микроскопа, промышленный сканирующий электронный микроскоп, электронный зонд, химический состав, спектрометр EDS, электронный микроскоп: Сканирующий электронный микроскоп — Центр продуктов — Zeptools (zeptools.cn)