Как подготовить образцы для анализа на сканирующем электронном микроскопе?
время：
2023-11-24
автор：
При проведении сканирующей электронной микроскопии подготовка и обработка образца играют крайне важную роль; она включает следующие основные этапы:
1. Подготовка образцов к анализу
В зависимости от материала может потребоваться проведение механической или химической предварительной обработки — резки, шлифования, полирования, травления и т. п. — для получения чёткого среза или поверхности и обеспечения получения идеального изображения.
2. Обработка образца для обеспечения электропроводности
Большинство непроводящих материалов требуют покрытия тонкой проводящей плёнкой или напыления золота, чтобы повысить электропроводность поверхности образца. Это улучшает качество изображения и предотвращает накопление заряда на образце под воздействием пучка, что может искажать результаты визуализации.
3. Калибровочные размеры
На поверхности образца наносится масштабная шкала, которая служит эталоном для последующего анализа и интерпретации размеров изображений. Обычно это осуществляется с использованием стандартных образцов.
4. Загрузка образцов в камеру
Закрепите образец с помощью двусторонней клейкой ленты или образцового держателя, при необходимости подключите заземление, после чего поместите его в камеру для проведения измерений. Обратите внимание на выравнивание муфты, чтобы обеспечить оптимальное положение образца.
5. Выбор подходящих параметров сканирования
В зависимости от материала образца и цели его характеристики выбирают соответствующие параметры — ускоряющее напряжение, рабочее расстояние, набор детекторов, скорость сканирования и др. — чтобы получить оптимальное изображение.
Точная и стандартизированная подготовка образцов — первый шаг, обеспечивающий успешное проведение эксперимента на сканирующем электронном микроскопе. Для этого от специалиста по анализу требуются практический опыт и глубокие знания. В ходе эксперимента также необходимо уделять внимание защите образцов и выбору параметров, чтобы получить высококачественные изображения, полученные с помощью сканирующего электронного микроскопа.
Столешный сканирующий электронный микроскоп ZEM20 компании ZEPTOOLS
Вот и всё. Цзэюй Технологии Представляем вам дополнительный контент, более… Настольный сканирующий электронный микроскоп 、 Система in situ‑измерений TEM 、 Ступенчатый прибор 、 Нано‑представительный столик За подробностями обращайтесь по телефону 15756003283 (номер в WeChat — тот же).
Связанные новости
Свяжитесь с нами сейчас
Высококачественные крепления из нержавеющей стали с заводскими ценами
Свяжитесь с нами
Телефон:15756003283
Электронная почта:support@zeptools.com
Адрес: провинция Аньхой, город Тунлинь, Электронный парк предпринимательства «Дунши», д. 15