При анализе порошковых образцов на сканирующем электронном микроскопе (СЭМ) необходимо выполнить ряд тщательно продуманных этапов подготовки образца, чтобы обеспечить получение высококачественных изображений и точных данных. Ниже приведены основные этапы анализа порошковых образцов и соответствующие рекомендации:

1. Подготовка образцов к анализу

- Метод скрепления с помощью токопроводящего клея: сначала подготовьте образцовый стол и нанесите на него токопроводящий клей (например, серебряный или углеродный). С помощью зубочистки наберите небольшое количество порошка и аккуратно распределите его по поверхности клея; затем удалите несвязавшийся порошок путём вибрации и продувки, добиваясь равномерного однослойного распределения.

- Ультразвуковая дисперсия: для мелкодисперсных порошков их можно смешать с соответствующим количеством растворителя (например, этанолом), после ультразвуковой обработки нанести на образцовый столик и, высушив, провести наблюдение.

- Прямое нанесение порошка: применяется для относительно крупнозернистых порошков; порошок наносится непосредственно на образцовый стол, при необходимости можно использовать диспергент, после чего проводят продувку для удаления свободно лежащего порошка.

2. Избегайте зарядки

- Для непроводящих порошков, чтобы уменьшить эффект зарядки при облучении электронным пучком, перед проведением СЭМ‑анализа может потребоваться обработка поверхности образца, например, покрытие углеродом или напыление золота.

3. Настройки работы с SEM

- Регулировка рабочего расстояния и напряжения: в зависимости от свойств образца подбирают рабочее расстояние и ускоряющее напряжение СЭМ, чтобы достичь наилучшего разрешения и контрастности изображения.

- Изображение за счёт вторичных электронов: как правило, используется детектор вторичных электронов, поскольку он чувствителен к рельефу поверхности и подходит для наблюдения мелких деталей порошковых частиц.

4. Анализ данных

- Программное обеспечение для анализа частиц: с помощью такого программного обеспечения, как система анализа частиц на сканирующем электронном микроскопе FEI, можно быстро оценить размеры и форму частиц, а также получить количественные данные.

- Приборы, такие как Nebula: для проведения более сложного анализа можно использовать оборудование, основанное на вакуумной диспергации, например Nebula, чтобы обеспечить равномерное распределение порошка и облегчить его анализ.

5. Особые соображения

- Контроль температуры: для термочувствительных порошков могут потребоваться специальные образцовые камеры или растровые электронные микроскопы с контролем окружающей среды.

- Повторяемость: обеспечивает единообразие подготовки образцов при каждом анализе, что позволяет сравнивать полученные результаты.

6. Запись эксперимента

- Записывайте все условия подготовки образцов и параметры СЭМ, чтобы в дальнейшем можно было повторить эксперимент или интерпретировать полученные результаты.

С помощью перечисленных выше шагов можно эффективно проводить анализ порошковых образцов в СЭМ, выявляя такие важные характеристики, как их микроструктура, распределение размеров частиц и морфологические особенности; это имеет ключевое значение для таких областей, как материаловедение, химия, геология и других.

Термостатический сканирующий электронный микроскоп серии ZEM компании ZEPTOOLS

Сканирующий электронный микроскоп, отечественный сканирующий электронный микроскоп, сколько стоит один сканирующий электронный микроскоп, настольный сканирующий электронный микроскоп, принцип работы просвечивающего электронного микроскопа, промышленный сканирующий электронный микроскоп, электронный зонд, химический состав, спектрометр EDS, электронный микроскоп, стендовый образцодержатель, образцодержатель для просвечивающего электронного микроскопа, ступенчатый профилометр, линейка‑рассеиватель, электронно‑лучевой литографический аппарат, литографический аппарат без маски, in situ‑анализ в СЭМ, in situ‑анализ в ТЭМ: Сканирующий электронный микроскоп — Центр продуктов — Zeptools (zeptools.cn)