Как возникают артефакты на изображениях, полученных с помощью сканирующего электронного микроскопа?
время:
2023-11-15
автор:
Артефакты в изображениях, полученных с помощью сканирующего электронного микроскопа, — это нереальные или искажённые признаки, возникающие в процессе формирования изображения и способные затруднить правильную интерпретацию и анализ образца. Артефакты в СЭМ‑изображениях могут иметь разные причины; в зависимости от этих причин их принято классифицировать на следующие категории:
Эффект зарядки: при облучении образца электронным пучком он легко заряжается, что приводит к неравномерному распределению заряда. Этот эффект может вызывать появление в изображении артефактов — изменений яркости или искажений рельефа.
Сканирующие артефакты: при нестабильности или неравномерности электронного луча в процессе сканирования могут возникать артефакты на изображении. Такие сканирующие артефакты обычно проявляются в виде полос или пятен на изображении.
Звонковый артефакт: колебания, возникающие в местах резких изменений градаций серого на изображении, подобно воздушным волнам, возникающим при ударе по колоколу. Звонковые артефакты обычно проявляются вблизи резких границ изображения в виде псевдограниц.
Избыточная резкость — артефакт: обычно сопровождает артефакт «звонка» и проявляется в виде скачков на границах переходов, не принимая форму кольца. Артефакт избыточной резкости выглядит как белые или чёрные зазубрины.
Блочная артефактность: блочная артефактность проявляется в виде «квадратиков» на изображении, напоминающих мозаику. Обычно она возникает вследствие сжатия или разбиения изображения.

Выше перечислены некоторые распространённые причины появления артефактов на изображениях, полученных с помощью сканирующего электронного микроскопа. За дополнительной информацией о продукции и ценах на образцовые стержни обращайтесь по телефону 15756003283 (номер в WeChat — тот же).
Связанные новости
Свяжитесь с нами сейчас
Высококачественные крепления из нержавеющей стали с заводскими ценами