Для подготовки образцов к исследованию на сканирующем электронном микроскопе (Scanning Electron Microscope, SEM) необходимо выполнить ряд операций, обеспечивающих чистоту поверхности образца, его хорошую электропроводность и получение высококачественных микроскопических изображений. Ниже приведены некоторые распространённые этапы обработки:

1. Фиксация образцов:
- Цель: сохранение структуры и формы образца, предотвращение его деформации во время подготовки или при наблюдении.
- Шаг: зафиксируйте образец с помощью подходящего фиксатора (например, глутарового альдегида); это можно осуществить путём погружения или инъекции.

2. Дегидратация:
- Цель: удалить влагу из образца, чтобы предотвратить образование пузырьков в вакуумной среде.
- Шаг: постепенно заменяют воду органическим растворителем (например, этанолом), после чего помещают образец в вакуум для испарения воды.

3. Сушка:
- Цель: полностью удалить влагу из образца, чтобы предотвратить образование водяного пара в вакуумной среде.
- Шаг: применять соответствующие методы сушки, такие как сушка при критической точке, лиофильная сушка и др.

4. Проводящее покрытие (Conductive Coating):
- Цель: повысить электропроводность образца, чтобы избежать ухудшения качества изображения вследствие накопления электрического заряда.
- Шаг: покрытие поверхности образца проводящим тонким слоем (обычно металлом, таким как золото или платина) с помощью таких методов, как напыление или вакуумное испарение.

5. Разрезание (Sectioning):
- Цель: Для образцов тканей может потребоваться нарезка на тонкие срезы для более детального изучения.
- Шаг: с помощью ультратонкого микротома и другого оборудования нарезать образец до необходимой толщины.

6. Установка (Монтаж):
- Цель: закрепить образец на держателе для образцов в СЭМ.
- Шаг: с помощью токопроводящего двустороннего скотча или токопроводящего клея надёжно закрепите образец на держателе.

7. Вакуумная обработка (Vacuum Treatment):
- Цель: Для наблюдения в СЭМ необходимо проводить эксперимент в условиях вакуума.
- Шаг: поместить образец в вакуумную камеру и создать в СЭМ соответствующую вакуумную среду.

8. Регулировка фокусного расстояния и рабочего расстояния:
- Цель: получить чёткое изображение в СЭМ.
- Шаг: в соответствии с характеристиками образца настраивают параметры СЭМ, включая фокусное расстояние, рабочее расстояние и др.

9. Маркировка местоположения (Кондуктивное заземление):
- Цель: предотвратить накопление электрического заряда и уменьшить эффект рассеяния на изображении.
- Шаг: в камере СЭМ с помощью проводящего держателя отметьте место расположения образца.

Степень детализации и порядок указанных выше этапов могут варьироваться в зависимости от свойств образца и конкретных целей исследования. Цель этих подготовительных процедур — обеспечить получение на СЭМ высококачественных микроскопических изображений с высоким разрешением и исключить нежелательные эффекты, возникающие при подготовке образца.

Столешный сканирующий электронный микроскоп ZEM20 компании ZEPTOOLS

Вот и всё. Цзэюй Технологии Какую подготовку необходимо провести с образцами для сканирующей электронной микроскопии (СЭМ) перед их исследованием на СЭМ, подробнее… Настольный сканирующий электронный микроскоп 、 Система in situ‑измерений TEM 、 Система in situ‑измерений SEM 、 Ступенчатый прибор 、 Нано‑пьезо‑столик За подробностями обращайтесь по телефону 15756003283 (номер в WeChat — тот же).