Какое значение сопротивления позволяет обходиться без электропроводящего покрытия в стационарном сканирующем электронном микроскопе?
время：
2024-07-15
автор：
При исследовании непроводящих образцов в сканирующем электронном микроскопе (СЭМ) обычно необходимо принимать меры, обеспечивающие баланс зарядов на их поверхности, поскольку такие образцы под воздействием пучка электронов легко подвергаются эффекту заряжения, что приводит к искажению изображения, появлению локальных засветов или потере деталей. Не существует единого определённого значения сопротивления, по которому можно судить, когда СЭМ может обходиться без проведения образца; вместо этого применяют методы, направленные на уменьшение эффекта заряжения.
Для образцов, не обладающих электропроводностью или имеющих слабую электропроводность, распространёнными подходами являются:
1. Электропроводящее покрытие На поверхность образца наносится крайне тонкий слой проводящего материала, например золота (Au), платины (Pt) или углерода (C), толщина которого обычно составляет от нескольких до десятка нанометров; это позволяет повысить электропроводность поверхности образца и предотвратить накопление зарядов.
2. Режим низкого вакуума В СЭМ при использовании режима низкого вакуума вводится небольшое количество газовых молекул; пучок электронов, сталкиваясь с этими молекулами, образует положительные ионы, которые способны нейтрализовать отрицательный заряд на поверхности образца, тем самым уменьшая эффект заряжения.
3. Снижение напряжения и тока электронного пучка Снижение энергии падающих электронов позволяет уменьшить эффект зарядки, однако это может повлиять на разрешение и контрастность изображения.
4. Использование токопроводящего клея : На определённых участках образца применяется токопроводящий клей, что способствует электропроводности и уменьшает локальное накопление заряда.
5. Технология быстрого формирования изображений : Быстро получать изображения до проявления эффекта зарядки.
Поэтому решение принимается не на основе значения сопротивления, а посредством указанных выше технических методов, позволяющих преодолеть трудности, связанные с анализом непроводящих образцов в СЭМ. В идеальном случае любой образец, независимо от его сопротивления, при условии применения соответствующих мер по предотвращению зарядки может быть эффективно исследован в СЭМ.
Термостатический сканирующий электронный микроскоп серии ZEM компании ZEPTOOLS
Сканирующий электронный микроскоп, отечественный сканирующий электронный микроскоп, сколько стоит один сканирующий электронный микроскоп, настольный сканирующий электронный микроскоп, принцип работы просвечивающего электронного микроскопа, промышленный сканирующий электронный микроскоп, электронный зонд, химический состав, спектрометр EDS, электронный микроскоп, стендовый образцодержатель, образцодержатель для просвечивающего электронного микроскопа, шагомер, линейка‑решётка, электронно‑лучевой литографический аппарат, литографический аппарат без маски, in situ‑анализ в СЭМ, in situ‑анализ в ТЭМ: Сканирующий электронный микроскоп — Центр продуктов — Zeptools (zeptools.cn)
Связанные новости
Свяжитесь с нами сейчас
Высококачественные крепления из нержавеющей стали с заводскими ценами
Свяжитесь с нами
Телефон:15756003283
Электронная почта:support@zeptools.com
Адрес: провинция Аньхой, город Тунлинь, Электронный парк предпринимательства «Дунши», д. 15