Каковы области применения стержня для образцов в режиме in situ в электронных микроскопах?
время：
2023-11-23
автор：
Сегодня мы расскажем об основных областях применения стержня для образцов в режиме in situ в электронных микроскопах. :
1. Эксперимент по нагреву в исходном состоянии
Благодаря интеграции нагревательного устройства в головку образцового стержня можно непосредственно осуществлять нагрев образца и одновременно наблюдать с помощью электронного микроскопа его изменения при высоких температурах, что позволяет изучать такие процессы, как термически вызванные фазовые превращения, явления выделения и нестабильные переходы.
2. Лабораторный эксперимент при низких температурах в естественных условиях
Использование зонда in situ с низкотемпературной образцовой платформой позволяет охладить образец до температуры жидкого азота или жидкого гелия и затем непосредственно исследовать его микроструктурные характеристики при низких температурах, что применяется для изучения сверхпроводимости или низкотемпературных фазовых переходов.
3. Эксперимент по измерению деформации в исходном состоянии
Путём установки устройства, создающего напряжение, на конец образцового стержня, можно в электронном микроскопе прикладывать к образцу растягивающие или сжимающие деформации и в режиме реального времени наблюдать за механизмами микродеформаций, движением дислокаций и другими явлениями.
4. Эксперимент с лазерным облучением
С использованием встроенной в зонд оптической окна и оптоволоконной системы осуществляется лазерное облучение микрорегионов, что позволяет проводить исследования фотохимических реакций в электронном микроскопе.
5. Электрохимический эксперимент
С использованием микропотоков и технологии вывода электродов можно создавать внутри электронного микроскопа электролитическую среду и проводить исследования электрохимических реакций в режиме in situ, таких как электродепозиция, изучение механизмов коррозии и др.
6. Ионная бомбардировка в исходном состоянии
С помощью интегрированного в стенд ионного источника можно формировать направленный ионный пучок для проведения модификации методом бомбардировки или резки образца, а также осуществлять in situ‑наблюдение за эффектами облучения.
Стойка для вакуумной транспортировки образцов в просвечивающем электронном микроскопе
Выше перечислены основные направления применения текущих образцовых стержней компании Zeyou Technology; внедрение этих технологий существенно расширило возможности электронных микроскопов в сфере научных исследований и характеристики материалов. За дополнительной информацией о продукции и ценах на образцовые стержни обращайтесь по телефону 15756003283 (номер указан также в WeChat).
Связанные новости
Свяжитесь с нами сейчас
Высококачественные крепления из нержавеющей стали с заводскими ценами
Свяжитесь с нами
Телефон:15756003283
Электронная почта:support@zeptools.com
Адрес: провинция Аньхой, город Тунлинь, Электронный парк предпринимательства «Дунши», д. 15