Может ли настольный сканирующий электронный микроскоп определять состав?
время：
2024-07-17
автор：
Стационарный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) сам по себе в основном предоставляет изображения поверхности с высоким разрешением, однако при сочетании с определёнными детекторами и аналитическими методами он действительно позволяет проводить анализ химического состава. Детектор обратнорассеянных электронов (BSE) является одним из ключевых инструментов для реализации этой функции.
1. Анализ с помощью обратнорассеянных электронов (BSE): интенсивность сигнала BSE в основном определяется значением атомного номера образца; таким образом, анализируя изображения BSE, можно выявить различия в атомных номерах различных участков образца и, соответственно, сделать вывод о приблизительном распределении компонентов. Элементы с высоким атомным номером генерируют больше обратнорассеянных электронов, чем элементы с низким атомным номером; на изображении это проявляется в виде различий яркости. Однако информация, получаемая на основе изображений BSE, носит преимущественно качественный характер.
2. Энергодисперсионная спектроскопия (EDS) или волновая дисперсионная спектроскопия (WDS): для получения более точного анализа состава СЭМ обычно оснащается системами EDS или WDS. EDS позволяет анализировать рентгеновское излучение, испускаемое образцом, и определять виды элементов по энергии рентгеновских лучей, тогда как WDS обеспечивает более высокую точность количественного анализа элементов. В сочетании с СЭМ эти две методики позволяют проводить качественный и количественный анализ состава образца.
3. Сочетание с другими методами: помимо БЭС и ЭДС/ВДС, СЭМ может быть интегрирован с такими методами, как электронно‑зондовая микроанализа (ЭПМА), что дополнительно расширяет возможности анализа химического состава.
Таким образом, хотя в стационарном сканирующем электронном микроскопе непосредственно с использованием детектора BSE осуществляется разделение компонентов по атомному номеру, благодаря интеграции таких дополнительных модулей, как EDS или WDS, он способен выполнять комплексный анализ состава, что делает его важным инструментом для исследований в различных областях — от материаловедения и геологии до биологии.
Термостатический сканирующий электронный микроскоп серии ZEM компании ZEPTOOLS
Сканирующий электронный микроскоп, отечественный сканирующий электронный микроскоп, сколько стоит один сканирующий электронный микроскоп, настольный сканирующий электронный микроскоп, принцип работы просвечивающего электронного микроскопа, промышленный сканирующий электронный микроскоп, электронный зонд, химический состав, спектрометр EDS, электронный микроскоп, стендовый образцесодержатель, образцесодержатель для просвечивающего электронного микроскопа, ступенчатый профилометр, линейка‑рассеиватель, электронно‑лучевой литограф, литограф без маски, SEM‑в‑месте, TEM‑в‑месте: Сканирующий электронный микроскоп — Центр продуктов — Zeptools (zeptools.cn)
Связанные новости
Свяжитесь с нами сейчас
Высококачественные крепления из нержавеющей стали с заводскими ценами
Свяжитесь с нами
Телефон:15756003283
Электронная почта:support@zeptools.com
Адрес: провинция Аньхой, город Тунлинь, Электронный парк предпринимательства «Дунши», д. 15