Применение высокоточных ступенчатых измерителей серии JS компании ZEPTOOLS в полупроводниковой отрасли
время:
2024-02-26
автор:
Ступенчатый измеритель высокой точности серии JS компании ZEPTOOLS — это передовой отечественный прибор, разработанный собственными силами и основанный на современной технологии сканирующего зондирования. Путём проведения микроскопических измерений по поверхности образца с помощью сканирующего зонда устройство позволяет точно получать информацию о рельефе поверхности. Принцип его работы заключается в взаимодействии зонда с поверхностью образца: измеряя крошечные смещения зонда, прибор определяет различия высот на поверхности. Среди его эксплуатационных характеристик можно выделить:
1. Высокая точность: ступенчатый измеритель позволяет осуществлять измерения на наноуровне, выявляя мельчайшие детали и особенности микроструктуры.
2. Сверхточное плоское сканирование с большим ходом: обладает большим ходом 70 мм и точностью лучше 20 нм/2 мм, что позволяет эффективно получать данные о рельефе поверхности.
3. Нано‑микропозиционер с большой амплитудой и широким диапазоном перемещений: обладает большим ходом 80 мкм и частотой 10 кГц, что позволяет быстро получать данные о рельефе образца.
4. Сверхмикропостоянный контроль давления: обеспечивает регулирование давления в диапазоне от 0,5 мН до 15 мН, гарантируя стабильность и однородность процесса изготовления.
Описание функций и назначения
Как сверхточный контактный микропрофилометр, высокоточный ступенчатый измеритель серии JS компании «ZEPTOOLS» широко применяется в полупроводниковой отрасли. Его основные функции и назначение включают:
1. Измерение микронных и наноструктур: позволяет определять толщину плёнок и высоту тонких плёнок, а также такие характеристики, как рельеф поверхности, поверхностные волны и шероховатость, — всё это на микронном и нанометровом уровнях.
2. Выявление дефектов и изучение морфологии поверхности: позволяет выявлять дефекты и исследовать морфологию поверхности полупроводниковых материалов, обеспечивая надёжную базу данных для разработки и производства полупроводниковых приборов.
3. Повышение производительности: благодаря возможности высокоскоростного сканирования можно быстро получать данные о морфологии образцов, что способствует повышению производительности.

Применение высокоточных ступенчатых измерителей серии JS компании ZEPTOOLS в полупроводниковой отрасли обладает следующими преимуществами:
1. Высокая точность измерений: обладает разрешением на уровне субангстрема, что позволяет удовлетворять требованиям высокоточных измерений микроскопической морфологии поверхности в полупроводниковом производстве.
2. Способность к быстрому измерению: оснащён точными этапами смещения и поворотными платформами, что позволяет оперативно получать данные о высоте поверхности и повышать эффективность измерений.
3. Широкая область применения: позволяет проводить измерения на поверхностях самых различных материалов, включая металлы, пластмассы, стекло и др., и подходит для разных технологий производства полупроводников и различных материалов.
Применение высокоточных ступенчатых измерителей серии JS компании «ZEPTOOLS» в полупроводниковой отрасли, благодаря их передовым технологиям сканирующего зондирования и выдающимся эксплуатационным характеристикам, обеспечивает надёжную техническую поддержку на этапах производства полупроводниковых приборов и контроля качества, способствуя развитию отечественной полупроводниковой промышленности и ускорению процесса импортозамещения.

Полуавтоматический ступенчатый прибор Zeyou Technology JS100A
Компания «Аньхой Цзэюй Технологии» — это научно‑инструментальная фирма, обладающая полностью самостоятельными правами интеллектуальной собственности. С начала 1990‑х годов, когда она приступила к разработке электронных микроскопов и сопутствующего оборудования, её исследовательская команда неизменно стремится предоставлять высококачественные приборы для нанонаучных исследований. В настоящее время компания располагает… Пико Фемто Серия Система измерений в режиме in situ при помощи ТЭМ 、 Система измерений СЭМ в нативном состоянии 、 Настольный сканирующий электронный микроскоп серии ZEM 、 Ступенчатый измеритель серии JS 、 Нано‑пьезо‑столик 、 Станок для переноса двумерных материалов 、 Пробоночная платформа и низкотемпературная система 、 Линейка с датчиком линейного перемещения Ряд продуктовых линеек, включая …, пользуются широким признанием как на внутреннем, так и на международном рынках, заполняя многочисленные пробелы в отечественной сфере научно‑точных измерительных приборов.
Связанные новости
Свяжитесь с нами сейчас
Высококачественные крепления из нержавеющей стали с заводскими ценами