Принцип работы настольного сканирующего электронного микроскопа
время：
2023-11-08
автор：
В 1960‑е годы был создан сканирующий электронный микроскоп (Scanning Electron Microscope), который использует пучок высокоэнергетических электронов для сканирования образца и формирования изображения. Взаимодействие электронов с атомами, составляющими образец, порождает сигналы, содержащие информацию о рельефе поверхности, химическом составе и других характеристиках образца. Далее редакция Zeyou подробно расскажет о принципе работы настольного сканирующего электронного микроскопа.
В принципе сканирующий электронный микроскоп использует крайне тонко сфокусированный пучок высокоэнергетических электронов, который сканирует поверхность образца, вызывая возбуждение различных физических сигналов. Путём их регистрации, усиления и отображения в виде изображений можно получить представление о рельефе поверхности исследуемого образца.
Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) — это электронно‑оптический прибор, который с помощью узкого пучка электронов сканирует поверхность исследуемого образца, регистрирует разнообразные электронные сигналы, возникающие при взаимодействии пучка с образцом, и осуществляет преобразование и увеличение полученного изображения. Это эффективный инструмент для изучения трёхмерной структуры поверхностей. В высоковакуумной колбе электронный пучок, генерируемый электронной пушкой, фокусируется системой сходящихся электронных линз в тонкий луч, после чего поочерёдно сканирует и облучает поверхность образца. При этом формируются различные электронные сигналы — вторичные электроны, обратноотражённые электроны, прошедшие электроны, поглощённые электроны и др.; детектор улавливает эти сигналы, которые затем усиливаются электронными усилителями и подаются на кинескоп, управляемый сеткой кинескопа. По мере того как сфокусированный электронный луч сканирует поверхность образца, различные участки последнего, отличающиеся физическими и химическими свойствами, поверхностным потенциалом, элементным составом и неравномерной морфологией, вызывают различное электронное возбуждение, что приводит к постоянному изменению интенсивности электронного луча на кинескопе; в результате на флуоресцентном экране кинескопа формируется изображение, соответствующее структуре поверхности образца. В зависимости от принимаемых детектором различных электронных сигналов можно получить изображения образца, соответственно, в режимах обратноотражённых электронов, вторичных электронов и поглощённых электронов. Разрешение сканирующего электронного микроскопа достигает 50–100 Å, а коэффициент электронного увеличения может непрерывно изменяться от десятков до сотен тысяч раз. Благодаря этому удается детально рассмотреть всю поверхность образца.
Надеемся, что представленная информация от редактора компании «ZEPTOOLS» послужит полезным ориентиром для изучения принципов работы настольного сканирующего электронного микроскопа. По вопросам цен на сканирующие электронные микроскопы обращайтесь по телефону 15756003283 (номер в WeChat — тот же).
Связанные новости
Свяжитесь с нами сейчас
Высококачественные крепления из нержавеющей стали с заводскими ценами
Свяжитесь с нами
Телефон:15756003283
Электронная почта:support@zeptools.com
Адрес: провинция Аньхой, город Тунлинь, Электронный парк предпринимательства «Дунши», д. 15