Производитель образцовых стержней для in situ‑электрических измерений в просвечивающем электронном микроскопе — цены на образцовые стержни для in situ‑TEM
время：
2024-01-22
автор：
Система измерений in situ для просвечивающих электронных микроскопов серии PicoFemto была разработана группой SF1 Института физики Китайской академии наук (в 1990‑е годы) и ориентирована на… Сталк для проведения электроизмерений в условиях in situ Компания «ZEPTOOLS» непрерывно осуществляет модернизацию продуктов и расширение их функциональных возможностей; в её ассортименте представлены образцовые стержни с различными встроёнными функциями — электрическими, силовыми, оптическими, термическими и низкотемпературными. Продукция компании не только охватывает отечественный рынок просвечивающих электронных микроскопов, но и успешно поставляется на научные рынки США, Великобритании, Германии и Австралии.
Пико Фемто Серия трансмиссионных электронных микроскопов Сталк для проведения электроизмерений в условиях in situ В стандартный образец‑держатель для просвечивающего электронного микроскопа встраивается блок управления сканирующим зондом, позволяющий осуществлять манипуляцию с отдельными наноструктурами и проводить их электрофизические измерения; при этом, одновременно с этими измерениями, выполняется динамическая высокоразрешающая комплексная характеристика кристаллической структуры, химического состава и валентных состояний элементов образца, что существенно расширяет функциональные возможности и область применения просвечивающего электронного микроскопа.
Технические характеристики зонда для in situ‑электрических измерений
| Электрические измерения | Механическое управление |
| 1. Включает в себя блок измерения тока и напряжения; | 1. Регулировка толщины зонда: полностью программное управление; |
| 2. Диапазон измерения тока: 1 нА — 30 мА; | 2. Диапазон грубой настройки: в направлениях X и Y — 2,5 мм, в направлении Z — 1,5 мм; |
| 3. Разрешение тока: 100 фА; | 3. Диапазон тонкой настройки: в направлениях X и Y — 18 мкм, в направлении Z — 1,5 мкм; |
| 4. Диапазон выходного напряжения: ±10 В, ±150 В; | 4. Тонкая настройка разрешения: в направлениях X и Y — 0,4 нм, в направлении Z — 0,04 нм; |
| 5. Автоматическое измерение с помощью программного обеспечения: I‑V, I‑t |
Подбор модели образцового стержня для in situ‑электрических измерений
Сталк для проведения электроизмерений в условиях in situ Представлено в двух версиях — с одним наклоном и с двумя наклонами; пользователь может самостоятельно выбрать подходящую в зависимости от экспериментальных требований.
Компания «ZEPTOOLS» поставляет образцовые стержни различных моделей, совместимые с трансмиссионными электронными микроскопами марок Thermofisher/FEI (Термо Фишер), JEOL (Японская электронная компания) и Hitachi (Хитачи), при этом обеспечивая сохранение исходного разрешения этих микроскопов.
Отечественные пользователи стержня для in situ‑электрических измерений образца
Типичный случай
1. Внутриустановочные электрические эксперименты на просвечивающем электронном микроскопе;
2. Эксперименты по сжатию и растяжению в режиме in situ в трансмиссионном электронном микроскопе.
Связанные новости
Свяжитесь с нами сейчас
Высококачественные крепления из нержавеющей стали с заводскими ценами
Свяжитесь с нами
Телефон:15756003283
Электронная почта:support@zeptools.com
Адрес: провинция Аньхой, город Тунлинь, Электронный парк предпринимательства «Дунши», д. 15