Различия между сканирующим и трансмиссионным электронными микроскопами
время：
2023-11-14
автор：
Сканирующий электронный микроскоп (SEM) и просвечивающий электронный микроскоп (TEM) оба используют пучок электронов для исследования микроструктуры образцов, однако их принципы работы и области применения различаются.
Сканирующий электронный микроскоп (SEM):
СЭМ — это метод, при котором на поверхность образца бомбардируют тонко сфокусированным электронным пучком; в результате взаимодействия электронов с образцом формируются вторичные электроны, обратнорассеянные электроны и другие сигналы, позволяющие наблюдать и анализировать морфологию поверхности или излома образца.
СЭМ обладает такими особенностями, как большая глубина резкости, высокое разрешение, наглядное изображение, выраженный объёмный эффект, широкий диапазон увеличений, а также возможность вращения и наклона исследуемого образца в трёхмерном пространстве.
СЭМ широко применяется в материалахеделии, металлургии, минералогии и биологии1 и позволяет проводить анализ и исследование таких аспектов, как морфология, состав и структура веществ.
Трансмиссионный электронный микроскоп (ТЭМ):
ТЭМ заключается в том, что ускорённый и сфокусированный электронный пучок направляется на очень тонкий образец; при столкновении с атомами образца электроны изменяют своё направление, что приводит к рассеянию в пространственном угле.
Поскольку длина волны де Бройля электронов чрезвычайно мала, разрешающая способность ТЭМ значительно превышает таковую у оптических микроскопов — она может достигать 0,1–0,2 нм, а увеличение составляет от нескольких десятков тысяч до миллиона крат.
ТЭМ позволяет исследовать мелкозернистую структуру образцов и даже визуализировать структуру всего одного ряда атомов — на несколько тысяч раз более мелкую, чем минимальная структура, доступная для наблюдения с помощью оптического микроскопа.
ТЭМ является важным аналитическим методом во многих смежных научных областях, таких как физика и биология, а также в исследованиях рака, вирусологии, материаловедении, нанотехнологиях, полупроводниковых исследованиях и других.
В целом, СЭМ и ТЭМ являются мощными инструментами, позволяющими получить глубокое представление о микроструктуре образца. Однако выбор между ними зависит от конкретных экспериментальных требований — например, от того, какую часть образца необходимо исследовать (поверхность или внутреннюю структуру), а также от необходимой разрешающей способности.
Вот и всё, что рассказала редакция компании «ZEPTOOLS» о различиях между сканирующим и просвечивающим электронными микроскопами. За дополнительной информацией о продукции и ценах на образцовые стержни обращайтесь по телефону 15756003283 (номер в WeChat совпадает).
Связанные новости
Свяжитесь с нами сейчас
Высококачественные крепления из нержавеющей стали с заводскими ценами
Свяжитесь с нами
Телефон:15756003283
Электронная почта:support@zeptools.com
Адрес: провинция Аньхой, город Тунлинь, Электронный парк предпринимательства «Дунши», д. 15