Режим удержания электронного пучка в сканирующем электронном микроскопе


время:

2023-11-07

Режим удержания электронного пучка в сканирующем электронном микроскопе, обычно именуемый режимом удержания (или режимом управления удержанием), представляет собой рабочий режим, позволяющий регулировать движение электронного пучка для удовлетворения различных требований к получению изображений и проведению анализа. Этот режим обеспечивает возможность настройки таких параметров, как фокусировка пучка, скорость сканирования и размер пучковых групп.

Некоторые распространённые типы режимов удержания электронного пучка включают:

Концентрированный режим: в этом режиме электронный пучок фокусируется на небольшой точке, что обычно применяется для получения изображений высокого разрешения и микроанализа.

Режим сканирования: электронный пучок фокусируется в узкий пучковый сгусток, после чего перемещается по заданной траектории (например, линейным или растровым сканированием), чтобы получить изображение всего образца.

Режим фокусировки: данный режим используется для настройки фокусировки электронного пучка с учётом неровностей поверхности образца.

Режим масштабирования: используется для выбора и фокусировки электронного пучка при проведении конкретных видов анализа, таких как энергодисперсионный анализ (EDS) или электронная дифракция.

Эти режимы могут различаться в зависимости от типа и марки сканирующего электронного микроскопа, однако они позволяют оператору настраивать параметры электронного пучка в соответствии с конкретными требованиями, чтобы получить желаемые результаты изображения и анализа.

Выше представлены режимы удержания электронного пучка в сканирующем электронном микроскопе, о которых рассказали специалисты компании «ZEPTOOLS». За дополнительной информацией о продукции и ценах на сканирующие электронные микроскопы обращайтесь по телефону 15756003283 (номер указан и в WeChat).

Свяжитесь с нами сейчас

Высококачественные крепления из нержавеющей стали с заводскими ценами

Запросить котировку