Степень чёрно‑белого отображения на изображении, получаемом с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ), то есть контрастность изображения, зависит от множества факторов, в том числе от свойств материала. В СЭМ контрастность чёрно‑белого изображения в основном определяется следующими факторами:

1. Сигнал вторичных электронов: Вторичные электроны — это электроны, вылетающие с поверхности образца в результате взаимодействия падающих электронов с образцом; они чрезвычайно чувствительны к поверхностной морфологии образца и позволяют эффективно отображать его микроскопическую структуру. Выход вторичных электронов мало зависит от атомного номера элемента и в основном определяется характером поверхности.

2. Сигнал обратного рассеяния электронов: Электроны обратного рассеяния (BSE) — это электроны, которые рассеиваются назад после упругого столкновения падающих электронов с ядрами атомов образца; они исходят из более глубоких слоёв образца. Изображение BSE чрезвычайно чувствительно к различиям в атомном номере: чем выше атомный номер материала, тем ярче он отображается на изображении.

3. Атомный номер образца: Поскольку генерация электронов обратного рассеяния зависит от атомного номера образца, материалы с различными атомными номерами проявляют на изображениях, полученных в СЭМ, разную чёрно‑белую контрастность.

4. Поверхностная морфология образца: Неровности и шероховатость поверхности образца также влияют на генерацию и детектирование вторичных электронов, что, в свою очередь, отражается на чёрно‑белой контрастности изображения.

5. Ускоряющее напряжение: Ускоряющее напряжение влияет на глубину взаимодействия электронного пучка с образцом, что, в свою очередь, определяет степень генерации вторичных электронов и обратнорассеянных электронов, изменяя чёрно‑белую контрастность изображения.

6. Рабочее расстояние: Изменение рабочего расстояния влияет на степень фокусировки электронного пучка, что, в свою очередь, отражается на чёрно‑белой контрастности изображения.

7. Тип детектора: Тип используемого детектора также влияет на характер и количество получаемых сигналов, что, в свою очередь, отражается на чёрно‑белой контрастности изображения.

8. Подготовка образцов: Способ подготовки образца, в частности наличие или отсутствие проводящей обработки либо покрытия, также влияет на накопление и рассеяние зарядов, что, в свою очередь, изменяет чёрно‑белую контрастность изображения.

Таким образом, степень чёрно‑белого контраста изображений, полученных на сканирующем электронном микроскопе, действительно зависит от свойств материала, однако при этом также определяется множеством факторов, включая параметры работы прибора и подготовку образца. При анализе необходимо учитывать все эти аспекты в совокупности, чтобы добиться наилучшего качества изображения.

Термостатический сканирующий электронный микроскоп серии ZEM компании ZEPTOOLS

Компания «Аньхой Цзэюй Технологии» — это научно‑инструментальная фирма, обладающая полностью самостоятельными правами интеллектуальной собственности. С начала 1990‑х годов, когда была начата разработка электронных микроскопов и сопутствующего оборудования, её исследовательская команда неизменно стремится предоставлять высококачественные приборы для нанонаучных исследований. В настоящее время компания располагает в том числе… Пико Фемто Серия Система измерений в режиме in situ с использованием ТЭМ 、 Система измерений СЭМ в нативном состоянии 、 Настольный сканирующий электронный микроскоп серии ZEM 、 Ступенчатый измеритель серии JS 、 Нано‑пьезо‑столик 、 Станок для переноса двумерных материалов 、 Пробоночная платформа и низкотемпературная система 、 Линейка с датчиком линейного перемещения Ряд продуктовых линеек, включая …, пользуются широким признанием как на внутреннем, так и на международном рынках, заполняя многочисленные пробелы в отечественной сфере научно‑измерительных приборов.