Техника подготовки образцов к сканирующей электронной микроскопии: предотвращение повреждений образца и загрязнения его поверхности
время：
2023-08-23
автор：
При подготовке образцов к сканирующей электронной микроскопии крайне важно избегать повреждений образца и загрязнения его поверхности, поскольку эти факторы могут негативно сказаться на качестве изображений СЭМ и на их интерпретации. Ниже приведены некоторые рекомендации по подготовке образцов, которые помогут предотвратить их повреждение и загрязнение поверхности:
Меры предосторожности перед обработкой образца:
Используйте стерильные инструменты и реактивы, чтобы избежать внесения бактериального и микробного загрязнения.
Строго соблюдается протокол обработки биологических образцов, включая такие этапы, как фиксация и дегидратация, что обеспечивает сохранение целостности структуры образца.
Резка и обработка образцов:
Используйте острый и чистый режущий инструмент, чтобы избежать повреждения образца.
При резке, отборе проб и их обработке следует избегать чрезмерного механического воздействия, чтобы предотвратить деформацию или повреждение образцов.
Дегидратация и фиксация:
В процессе дегидратации постепенно заменяют воду в образце, чтобы избежать его усадки или расширения.
Используйте подходящий фиксатор, чтобы он не оказывал неблагоприятного воздействия на клеточную структуру и морфологию образца.
Криосрез:
При использовании метода заморозки срезов необходимо обеспечить точный контроль температуры резания и температуры образца, чтобы избежать термического повреждения образца.
Металлизация:
Перед нанесением металла убедитесь, что поверхность образца сухая и чистая, чтобы избежать неравномерности покрытия и его отслаивания.
Контролируйте время и условия нанесения металлического покрытия, чтобы избежать избыточного покрытия или термического повреждения.
Избегайте окисления:
Избегайте длительного воздействия образца на воздух, чтобы предотвратить окисление.
В процессе подготовки применяют инертную атмосферу (например, азот) или вакуум, чтобы снизить риск окисления.
Избегайте прикосновений пальцами:
По возможности избегайте прямого касания образца пальцами, поскольку кожа может содержать жиры, загрязнения и другие вещества, способные загрязнить поверхность образца.
Санитарное состояние рабочего места:
При подготовке и работе с образцами поддерживайте чистоту и порядок в рабочей зоне, исключая загрязнение пылью и посторонними примесями.
Очистка инструментов и приборов:
Регулярно очищайте и калибруйте используемые инструменты, лезвия, приборы и прочее, чтобы обеспечить их надлежащую работу и точность.
Вот и все — техники подготовки образцов для сканирующей электронной микроскопии, которыми поделился редактор компании «ZEPTOOLS».
Связанные новости
Свяжитесь с нами сейчас
Высококачественные крепления из нержавеющей стали с заводскими ценами
Свяжитесь с нами
Телефон:15756003283
Электронная почта:support@zeptools.com
Адрес: провинция Аньхой, город Тунлинь, Электронный парк предпринимательства «Дунши», д. 15