Во время эксплуатации стержень образца для просвечивающего электронного микроскопа ослабевает; как с этим бороться?


время:

2024-07-02

Если во время эксплуатации трансмиссионного электронного микроскопа (Transmission Electron Microscope, TEM) возникает ослабление образцового стержня, это может негативно сказаться на стабильности образца и качестве изображения. Ослабление стержня обычно наблюдается в области крепёжных винтов или в месте соединения стержня с интерфейсом микроскопа. Ниже приведены общие шаги по устранению такой проблемы:

1. Прекратить операцию:
Прежде всего, немедленно прекратите работу с электронным микроскопом, чтобы избежать дальнейшего повреждения или загрязнения его внутренней среды.

2. Проверка вакуума:
Проверьте состояние вакуума в электронном микроскопе, поскольку резкое перемещение образцового стержня может привести к утечке вакуума. Если уровень вакуума понизился, необходимо заново создать вакуум и перед дальнейшим использованием убедиться в его стабильности.

3. Извлеките образцовый стержень:
Аккуратно извлеките стержень образца из электронного микроскопа, избегая резких тяг и натяжений, чтобы не повредить внутренние узлы прибора или сам стержень.

4. Проверка образцового стержня:
Обратите внимание на наличие видимых механических повреждений образцового стержня, таких как изгиб, деформация или ослабление винтов. Проверьте крепёжную часть образца, убедитесь, что винты надёжно затянуты и что способ фиксации соответствует требованиям.

5. Крепёжные винты:
С помощью специального инструмента (обычно шестигранного ключа или отвёртки) повторно затяните винты на образцовой стойке. При этом не прилагайте чрезмерных усилий, чтобы избежать металлической усталости и повреждения образца.

6. Уборка:
Если на образцовой стойке имеются какие‑либо загрязнения, удалите их с помощью подходящего растворителя и соответствующих методов очистки, убедившись, что после этого не осталось следов, способных повлиять на последующие эксперименты.

7. Перезагрузка:
Вновь вставьте образцовый стержень в электронный микроскоп, убедитесь в точности его позиционирования и в том, что соединение между стержнем и входным отверстием микроскопа плотное и не имеет зазоров.

8. Ещё раз проверьте вакуум:
После вставки образцового стержня ещё раз проверьте состояние вакуума, убедившись в отсутствии утечек.

9. Функциональное тестирование:
Перед повторным включением электронного микроскопа проведите несколько базовых функциональных проверок, например перемещение образцового стержня, проверку стабильности изображения и убедитесь, что всё работает исправно.

Если перечисленные выше шаги не помогли решить проблему или вы не уверены, как безопасно поступить в данной ситуации, следует обратиться к производителю электронного микроскопа либо к специализированной сервисной службе для проведения проверки и ремонта. При работе с подобными высокоточными приборами крайне важно соблюдать соответствующие эксплуатационные инструкции и меры безопасности.

Столик для in situ‑исследований на просвечивающем электронном микроскопе PicoFemto. Благодаря собственным разработанным технологиям эта серия позволяет вводить в ПЭМ различные in situ‑режимы — оптические, электрические, механические, термические, криогенные, жидкие и газовые — превращая ваш ПЭМ в мощную нанолабораторию. Основное преимущество системы PicoFemto для in situ‑измерений на ПЭМ заключается в возможности实时 наблюдения за динамическими процессами образца в реальных условиях, что позволяет отслеживать изменения материалов и проводить их анализ. В настоящее время данная система уже внедрена в ведущих университетах и исследовательских институтах как в стране, так и за рубежом, где была получена целая серия значимых научных результатов.

Свяжитесь с нами сейчас

Высококачественные крепления из нержавеющей стали с заводскими ценами

Запросить котировку