Главная
Продукт
Сканирующий электронный микроскоп
DMD‑литографический аппарат без маски
Электронно-лучевой литограф EBL
Ступенчатый инструмент
Текущие решения TEM
Нанометрическая станция
Приложения
Случай применения
Новости компании
Техническая информация
О ZEPTOOLS
О компании
Подбор персонала
Свяжитесь
Контактная информация
Онлайн сообщение
Язык
中文简体
English
Russian
Новости и информация
Знание продукта
Как измерять и регулировать увеличение сканирующего электронного микроскопа?
Для измерения и настройки увеличения сканирующего электронного микроскопа вы можете следовать приведённым ниже шагам.
26
2023
/
10
Как определяются параметры глубины и шероховатости поверхности в сканирующей электронной микроскопии?
Для определения глубины и параметров шероховатости поверхности, полученных с помощью сканирующего электронного микроскопа, обычно необходимо выполнить следующие шаги.
Как настроить систему сканирующего электронного микроскопа для изменения глубины и фокальной плоскости?
Для настройки системы сканирующего электронного микроскопа с целью изменения фокальной плоскости и глубины резкости обычно необходимо учитывать следующие факторы.
25
Значение коррекции аберраций в сканирующем электронном микроскопе
Коррекция аберраций в сканирующем электронном микроскопе (СЭМ) играет важную роль, поскольку способствует повышению качества изображения, особенно в условиях высокого разрешения.
Как выбрать и настроить рабочее расстояние и параметры фокусировки сканирующего электронного микроскопа
Выбор и настройка рабочего расстояния и параметров фокусировки сканирующего электронного микроскопа (СЭМ) имеют крайне важное значение, поскольку они непосредственно влияют на качество изображения и разрешение.
24
Как калибровать и настраивать размеры и масштаб изображений в сканирующем электронном микроскопе
Для калибровки и установки масштаба изображений в сканирующем электронном микроскопе (SEM) выполните следующие шаги: