Главная
Продукт
Сканирующий электронный микроскоп
DMD‑литографический аппарат без маски
Электронно-лучевой литограф EBL
Ступенчатый инструмент
Текущие решения TEM
Нанометрическая станция
Приложения
Случай применения
Новости компании
Техническая информация
О ZEPTOOLS
О компании
Подбор персонала
Свяжитесь
Контактная информация
Онлайн сообщение
Язык
中文简体
English
Russian
Новости и информация
Знание продукта
Как с помощью сканирующего электронного микроскопа наблюдать деформации и движение мелких механических структур?
Для наблюдения деформаций и движений микромеханических структур с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ) требуются определённые экспериментальные подходы и технические приёмы. Ниже приведены несколько шагов и методов, которые помогут вам визуализировать деформации и движения микромеханических структур на СЭМ.
28
2023
/
08
Как осуществляется контроль образцовой среды в настольном сканирующем электронном микроскопе?
Настольный сканирующий электронный микроскоп (SEM) обычно применяется в лабораторных условиях для анализа поверхностной морфологии и структуры образцов. Хотя настольные SEM, как правило, не обладают столь же мощными возможностями контроля окружающей среды, как крупные установки SEM, всё же можно принять ряд мер для оптимизации условий наблюдения за образцом.
Как избежать и устранить артефакты и искажения на изображениях, полученных методом СЭМ?
На изображениях, полученных с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ), артефакты и искажения могут затруднять интерпретацию и анализ данных. Ниже приведены некоторые методы предотвращения и устранения артефактов и искажений на СЭМ‑изображениях.
25
Как в сканирующем электронном микроскопе избежать и уменьшить влияние эффекта зарядки?
Эффект зарядки в сканирующем электронном микроскопе (СЭМ) — это распространённое явление: при облучении образца электронным пучком взаимодействие между пучком и поверхностью образца приводит к накоплению электрического заряда, что вызывает эффект зарядки и ухудшает качество изображения и его интерпретацию.
В эфире CCTV! Прибор для измерения профиля ступеней ZEPTOOLS представлен в новостях CCTV.
24 августа телеканал CCTV сообщил, что в ходе своего рабочего визита в провинцию Гуандун премьер-министр Ли Цян посетил Национальную лабораторию материалов озера Суншань и ознакомился с рядом демонстраций новых технологий и продуктов. В частности, академик Ван Эньго, председатель правления Лаборатории материалов озера Суншань, подробно представил премьер-министру Ли Цяну отечественные разработки, такие как прибор для измерения шага рельефа, которые были успешно внедрены в промышленное производство и запущены в массовое серийное изготовление компанией Zeptools, закрыв тем самым существующий на внутреннем рынке пробел.
24
Подготовка биологических образцов для сканирующей электронной микроскопии: этапы от заморозки и нарезки до металлизации
Сканирующий электронный микроскоп (SEM) широко применяется при исследовании биологических образцов, однако для их наблюдения в SEM требуется соответствующая подготовка. Ниже приведён общий порядок действий — от заморозки и нарезки до металлизации — позволяющий подготовить биологический образец к анализу в сканирующем электронном микроскопе.
23