Главная
Продукт
Сканирующий электронный микроскоп
DMD‑литографический аппарат без маски
Электронно-лучевой литограф EBL
Ступенчатый инструмент
Текущие решения TEM
Нанометрическая станция
Приложения
Случай применения
Новости компании
Техническая информация
О ZEPTOOLS
О компании
Подбор персонала
Свяжитесь
Контактная информация
Онлайн сообщение
Язык
中文简体
English
Russian
Новости и информация
Знание продукта
Различия между сканирующим и просвечивающим электронными микроскопами
Электронный микроскоп (ЭМ), будучи мощным инструментом микроскопического наблюдения, уже занял важное место в научных исследованиях и в инженерной сфере. Среди них сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) и просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ) — два наиболее распространённых типа электронных микроскопов; их принципы работы, конструкция и области применения обладают своими характерными особенностями.
01
2023
/
12
Параметры и примеры применения настольного сканирующего электронного микроскопа ZEM18
Наноматериалы — это материалы, в которых по крайней мере одна из трёх пространственных размерностей находится в наноразмерном диапазоне (1–100 нм). В XXI веке стремительное развитие информационных технологий, биотехнологий, энергетики, экологии, передовых производственных технологий и оборонной отрасли неизбежно порождает новые требования к материалам. Уменьшение габаритов компонентов, их интеллектуализация, высокая степень интеграции, плотная хранящаяся информация и сверхбыстрая передача данных предъявляют всё более жёсткие ограничения на размеры материалов; при этом авиакосмическая отрасль, новейшее военное оборудование и передовые технологии производства предъявляют всё более высокие требования к эксплуатационным свойствам материалов.
Познание микромира: сравнение точных измерений и применения ступенчатых и профилометрических приборов в промышленном производстве
В современной сфере промышленного производства развитие технологий точных измерений стало ключевым фактором, способствующим научно‑техническим инновациям и повышению качества продукции. В ходе исследования микромира ступенчатые профилометры и профилометры — два различных, но мощных измерительных инструмента — задают направление в области измерения поверхностной топографии в промышленном производстве. По мере непрерывного развития науки и техники понимание особенностей этих приборов и сфер их применения играет решающую роль для обеспечения качества продукции и соответствия технологическим требованиям. В рамках текущих тенденций развития данной отрасли давайте подробно рассмотрим различия и области применения ступенчатых профилометров и профилометров, раскрывая их исключительную ценность в сфере микрометрических измерений.
30
11
Основные классификации нанопозиционных столиков
В зависимости от сферы применения и конструктивных особенностей нанопозиционные столы могут иметь различные конструкции и типы, включая следующие:
Основные принципы сканирующей электронной микроскопии (СЭМ) и её практическое применение
Разрешающая способность оптического микроскопа ограничена длиной волны, поэтому её составляет около 200 нм. Впоследствии, чтобы преодолеть это ограничение, учёные, опираясь на принцип корпускулярно‑волнового дуализма — согласно которому электроны при движении под действием ускоряющего напряжения обладают длиной волны, достигающей одной десятитысячной длины волны видимого света, — разработали сканирующий электронный микроскоп (SEM).
Основная конструкция и принцип действия ступенчатого измерителя
Ступенчатый прибор — это контактный измеритель шероховатости поверхности, предназначенный главным образом для определения толщины ступеней. Ниже приводится краткое описание его принципа действия и конструкции.
29