Главная
Продукт
Сканирующий электронный микроскоп
DMD‑литографический аппарат без маски
Электронно-лучевой литограф EBL
Ступенчатый инструмент
Текущие решения TEM
Нанометрическая станция
Приложения
Случай применения
Новости компании
Техническая информация
О ZEPTOOLS
О компании
Подбор персонала
Свяжитесь
Контактная информация
Онлайн сообщение
Язык
中文简体
English
Russian
Новости и информация
Знание продукта
Каков принцип работы EDS (энергодисперсионного анализа) в сканирующем электронном микроскопе?
Сканирующий электронный микроскоп (Scanning Electron Microscope, SEM) — это прибор, использующий пучок электронов для наблюдения за микроструктурой поверхности образца. Энергодисперсный рентгеновский анализ (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy, EDS) — распространённая в сканирующих электронных микроскопах методика, предназначенная для определения элементного состава образца.
29
2023
/
11
Секретарь городского комитета КПК Тунлиня Дин Чунь со своей делегацией посетил компанию «ZEPTOOLS» с целью проведения исследований и оценки.
Утром 29 ноября секретарь городского комитета КПК Тунлиня Дин Чунь посетил компанию «Аньхой ZEPTOOLS», где провёл тематическое исследование по вопросам кадровой политики. В сопровождении приняли участие руководители города — Чжэн Ган, Ма Цзюнь и Ян Вэньпин — а также секретарь партийного комитета и директор управляющего комитета городской экономико‑технологической зоны Гу Цзиньсун и другие ответственные лица. Генеральный директор компании «ZEPTOOLS» Чжан Сяолун сердечно встретил участников этого визита.
Может ли сканирующая электронная микроскопия вызывать износ и усталость материала?
Сканирующий электронный микроскоп (Scanning Electron Microscope, SEM) при исследовании микроструктуры поверхности материалов обычно не вызывает их прямого износа и усталостных повреждений. SEM — это прибор, использующий пучок электронов для получения изображений поверхности образца с высоким разрешением; по сравнению с оптическими микроскопами он обладает гораздо более высоким разрешением и позволяет получать более детальную информацию о рельефе поверхности.
28
Чем отличаются шагомер и профилометр?
Степ‑профилометр и профилометр — это инструменты, используемые для характеристики поверхностной топографии и толщины тонких пленок, однако они различаются по принципу измерения и областям применения.
Какие области применения имеет ступенчатый измеритель в полупроводниковой отрасли?
Ступенчатый измеритель в полупроводниковой отрасли имеет следующие основные типовые области применения:
Является ли спектральная ошибка ТЭМ меньше, чем у СЭМ?
Поскольку многие знают, что у ТЭМ разрешение выше, они полагают, что разрешение спектрометра, совмещённого с ТЭМ, превышает соответствующее значение у СЭМ; однако это не является абсолютным утверждением.
27