Новостная лента-ZEPTOOLS- это научно‑инструментальная фирма

Новости и информация

IMC20 ┃ 10 сентября компания «ZEPTOOLS» приглашает вас на Международный конгресс по микроскопии в Пусане, Республика Корея.

С 10 по 15 сентября компания «ZEPTOOLS» приняла участие в IMC20 (20‑м Международном конгрессе по микроскопии), проходившем в выставочном центре BEXCO в городе Пусан, Республика Корея.

2023

Встречаем баскетбол с энтузиазмом и преодолеваем все преграды! В 2023 году завершился благотворительный турнир по баскетболу среди сотрудников «Кубок Цзэюй»

1 сентября во второй половине дня компания «ZEPTOOLS» провела в Центре спортивной культуры товарищеский баскетбольный турнир среди сотрудников под названием «Кубок Цзэюй» — 2023.

2023

Как функции вращения и наклона образца в настольном сканирующем электронном микроскопе влияют на результаты изображения?

Настольные сканирующие электронные микроскопы (СЭМ) обычно оснащены функциями вращения и наклона образца, которые могут оказывать влияние на результаты изображения. Ниже приводится информация о том, как эти функции воздействуют на качество изображений.

2023

Как с помощью сканирующего электронного микроскопа наблюдать деформации и движение мелких механических структур?

Для наблюдения деформаций и движений микромеханических структур с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ) требуются определённые экспериментальные подходы и технические приёмы. Ниже приведены несколько шагов и методов, которые помогут вам визуализировать деформации и движения микромеханических структур на СЭМ.

2023

Как осуществляется контроль образцовой среды в настольном сканирующем электронном микроскопе?

Настольный сканирующий электронный микроскоп (SEM) обычно применяется в лабораторных условиях для анализа поверхностной морфологии и структуры образцов. Хотя настольные SEM, как правило, не обладают столь же мощными возможностями контроля окружающей среды, как крупные установки SEM, всё же можно принять ряд мер для оптимизации условий наблюдения за образцом.

2023

Как избежать и устранить артефакты и искажения на изображениях, полученных методом СЭМ?

На изображениях, полученных с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ), артефакты и искажения могут затруднять интерпретацию и анализ данных. Ниже приведены некоторые методы предотвращения и устранения артефактов и искажений на СЭМ‑изображениях.

2023

< 1...72 73 74...77 >

Свяжитесь с нами

tel +86-400-966-2800

Телефон:15756003283
Электронная почта:support@zeptools.com
Адрес: провинция Аньхой, город Тунлинь, Электронный парк предпринимательства «Дунши», д. 15

Консультации онлайн +

Лицензия на ведение деятельности

COOKIES

Наш веб-сайт использует файлы cookie и аналогичные технологии, чтобы персонализировать показываемую вам рекламу и помочь вам получить максимальное удовольствие от посещения нашего веб-сайта. Для получения дополнительной информации ознакомьтесь с нашей Политикой конфиденциальности и использования файлов cookie.

COOKIES

необходимый

Эти файлы cookie необходимы для основных функций, таких как оплата. Стандартные файлы cookie невозможно отключить, и они не сохраняют никакой вашей информации.

анализировать

Эти файлы cookie собирают информацию, например о том, сколько людей используют наш сайт или какие страницы популярны, чтобы помочь нам улучшить качество обслуживания клиентов. Отключение этих файлов cookie будет означать, что мы не сможем собирать информацию для улучшения вашего опыта.

Особенность

Эти файлы cookie позволяют веб-сайту обеспечивать расширенную функциональность и персонализацию. Они могут быть установлены нами или сторонними поставщиками, чьи услуги мы добавили на наши страницы. Если вы не разрешите использование этих файлов cookie, некоторые или все эти службы могут работать некорректно.

рекламировать

Эти файлы cookie помогают нам понять, что вас интересует, чтобы мы могли показывать вам релевантную рекламу на других веб-сайтах. Отключение этих файлов cookie будет означать, что мы не сможем показывать вам персонализированную рекламу.