Главная
Продукт
Сканирующий электронный микроскоп
DMD‑литографический аппарат без маски
Электронно-лучевой литограф EBL
Ступенчатый инструмент
Текущие решения TEM
Нанометрическая станция
Приложения
Случай применения
Новости компании
Техническая информация
О ZEPTOOLS
О компании
Подбор персонала
Свяжитесь
Контактная информация
Онлайн сообщение
Язык
中文简体
English
Russian
Новости и информация
Знание продукта
Как в сканирующем электронном микроскопе избежать и уменьшить влияние эффекта зарядки?
Эффект зарядки в сканирующем электронном микроскопе (СЭМ) — это распространённое явление: при облучении образца электронным пучком взаимодействие между пучком и поверхностью образца приводит к накоплению электрического заряда, что вызывает эффект зарядки и ухудшает качество изображения и его интерпретацию.
25
2023
/
08
В эфире CCTV! Прибор для измерения профиля ступеней ZEPTOOLS представлен в новостях CCTV.
24 августа телеканал CCTV сообщил, что в ходе своего рабочего визита в провинцию Гуандун премьер-министр Ли Цян посетил Национальную лабораторию материалов озера Суншань и ознакомился с рядом демонстраций новых технологий и продуктов. В частности, академик Ван Эньго, председатель правления Лаборатории материалов озера Суншань, подробно представил премьер-министру Ли Цяну отечественные разработки, такие как прибор для измерения шага рельефа, которые были успешно внедрены в промышленное производство и запущены в массовое серийное изготовление компанией Zeptools, закрыв тем самым существующий на внутреннем рынке пробел.
24
Подготовка биологических образцов для сканирующей электронной микроскопии: этапы от заморозки и нарезки до металлизации
Сканирующий электронный микроскоп (SEM) широко применяется при исследовании биологических образцов, однако для их наблюдения в SEM требуется соответствующая подготовка. Ниже приведён общий порядок действий — от заморозки и нарезки до металлизации — позволяющий подготовить биологический образец к анализу в сканирующем электронном микроскопе.
23
Техника подготовки образцов к сканирующей электронной микроскопии: предотвращение повреждений образца и загрязнения его поверхности
При подготовке образцов к сканирующей электронной микроскопии крайне важно избегать повреждений образца и загрязнения его поверхности, поскольку эти факторы могут негативно сказаться на качестве изображений и интерпретации данных СЭМ. Ниже приведены некоторые рекомендации по подготовке образцов, которые помогут предотвратить их повреждение и загрязнение.
Как настольный сканирующий электронный микроскоп осуществляет настройку параметров изображения?
Настройка параметров изображения настольного сканирующего электронного микроскопа является важным этапом, обеспечивающим получение высококачественных изображений. Ниже приведены некоторые распространённые параметры изображения и соответствующие шаги их настройки.
22
Каковы способы вывода данных настольного сканирующего электронного микроскопа?
Настольные сканирующие электронные микроскопы (SEM) обычно поддерживают различные способы вывода данных, которые позволяют сохранять, анализировать и обмениваться изображениями. Ниже приведены некоторые распространённые методы вывода данных настольных сканирующих электронных микроскопов.