Подразделение журнала Nature: система in situ TEM‑STM компании Зэюй Технолоджи для сварки в режиме in situ
Дата публикации:
2024-03-21
Недавно Китайский нефтяной университет, Яньшаньский университет и Сианьский университет цзяо‑тун совместно опубликовали технологию сварки нанокерамических материалов с использованием зонда для ин‑ситу‑субнанометровой манипуляции в экологическом трансмиссионном электронном микроскопе (ETEM); соответствующие результаты исследования были опубликованы в журнале SCI «Nature Communications» (DOI: 10.1038/s41467-017-02590-1).
Недавно Китайский нефтяной университет, Яньшаньский университет и Сианьский университет цзяотун совместно опубликовали технологию сварки нанокерамических материалов с использованием зонда для ин‑сitu‑манипуляции на субнанометровом уровне в режиме экологического просвечивающего электронного микроскопа (ETEM). Соответствующие результаты исследования были опубликованы в журнале SCI «Nature Communications» (DOI: 10.1038/s41467-017-02590-1).
Керамические материалы обладают такими преимуществами, как стойкость к высоким температурам, высокая твёрдость и высокая химическая стабильность; однако основной причиной, ограничивающей их применение, до сих пор остаётся отсутствие эффективного метода сварки, позволяющего после соединения сохранять первоначальные превосходные эксплуатационные свойства материала. В данной статье предложен действительно эффективный подход к сварке: с использованием системы in situ TEM‑STM в ЭТМ‑установке удалось осуществить сварку на субнанометровом уровне и провести в режиме in situ наблюдение за поведением сварного узла под действием механического напряжения, приложенного нано‑манипуляторным зондом.
Технологии Цзэюй Пико Фемто ®FE‑F20‑система in situ TEM‑STM в рамках данного исследования с высокой точностью и стабильностью выполнила задачу сварки образцов, а также позволила осуществить наблюдение в режиме TEM при приложении к образцу внешних напряжений.
Компания «Аньхой Цзэюй Технологии» — это научно‑инструментальная фирма, обладающая полностью самостоятельными правами интеллектуальной собственности. С начала 1990‑х годов, когда компания приступила к разработке электронных микроскопов и сопутствующего оборудования, её исследовательская команда неизменно стремится предоставлять высококачественные приборы для нанонаучных исследований. В настоящее время в компании работают… Пико Фемто Серия Система измерений в режиме in situ с использованием ТЭМ 、 Система измерений СЭМ в нативном состоянии 、 Настольный сканирующий электронный микроскоп серии ZEM 、 Ступенчатый измеритель серии JS 、 Нано‑представительный столик 、 Станок для переноса двумерных материалов 、 Пробоночная платформа и низкотемпературная система 、 Линейка с дифракционной решёткой Ряд продуктовых линеек, включая …, пользуются широким признанием как на внутреннем, так и на международном рынках, заполняя многочисленные пробелы в отечественной сфере научно‑измерительных приборов.
Связанные новости
Свяжитесь с нами
Телефон:15756003283
Электронная почта:support@zeptools.com
Адрес: провинция Аньхой, город Тунлинь, Электронный парк предпринимательства «Дунши», д. 15