Сканирующая электронная микроскопия PicoFemto, система наноизмерений силы SEM
Дата публикации:
2024-03-21
Наноизмерение силы PicoFemto NI‑100 SEM интегрирует наноиндентор в сканирующий электронный микроскоп, позволяя пользователям проводить исследования наноиндентации in situ прямо в СЭМ. Система состоит из трёхмерного пьезоэлектрического столика для образца и зонда для измерения наносил. Установка образца обеспечивает гибкость и разнообразие вариантов; под управлением трёхмерного нанопозиционера достигается точное позиционирование с перемещением более 5 мм и разрешением позиционирования лучше 100 нм, что позволяет точно ориентировать исследуемую область относительно силового зонда.
Пико Фемто NI-100 SEM — измерение наносилы будет Наноиндентор Интегрировано в сканирующий электронный микроскоп …что позволяет проводить в режиме in situ исследования нано‑индентирования на сканирующем электронном микроскопе. Система состоит из трёхмерного образцетодержателя с пьезоэлектрическим приводом и зонда для измерения наносилы. Методика установки образца отличается гибкостью и разнообразием; под управлением трёхмерного нанопозиционера достигается точное позиционирование с перемещением свыше 5 мм и разрешением лучше 100 нм, что обеспечивает точное совмещение исследуемой области с силовым зондом.
Силовой зонд также приводится в действие пьезоэлектрическим механизмом, обеспечивая осевое перемещение до 100 мкм с разрешением по смещению лучше 0,25 нм. Нагрузка, приложенная к образцу, точно измеряется силовым датчиком; возможны как растягивающие, так и сжимающие усилия. В наличии имеются варианты силовых датчиков с различными пределами измерения, что позволяет добиться высокой точности измерений. В сочетании с электрическими, оптическими, нагревательными и другими модулями устройство может реализовать многофакторные исследования, включая ин‑сitu‑связи «сила–тепло», «сила–свет», «сила–электричество», а также «сила–тепло–ориентация кристалла».
• Таблица основных технических параметров наносилового измерительного комплекса PicoFemto NI‑100 SEM
Компания «Аньхой Цзэюй Технологии» — это научно‑инструментальная фирма, обладающая полностью самостоятельными правами интеллектуальной собственности. С начала 1990‑х годов, когда была начата разработка электронных микроскопов и сопутствующего оборудования, её исследовательская команда неизменно стремится предоставлять высококачественные приборы для нанонаучных исследований. В настоящее время компания располагает в том числе… Пико Фемто Серия Система измерений в режиме in situ с использованием ТЭМ 、 Система измерений СЭМ в нативном состоянии 、 Настольный сканирующий электронный микроскоп серии ZEM 、 Ступенчатый измеритель серии JS 、 Нано‑пьезо‑столик 、 Станок для переноса двумерных материалов 、 Пробоночная платформа и низкотемпературная система 、 Линейка с дифракционной решёткой Ряд продуктовых линеек, включая …, пользуются широким признанием как на внутреннем, так и на международном рынках, заполняя многочисленные пробелы в отечественной сфере научно‑точных измерительных приборов.
Связанные новости
Свяжитесь с нами
Телефон:15756003283
Электронная почта:support@zeptools.com
Адрес: провинция Аньхой, город Тунлинь, Электронный парк предпринимательства «Дунши», д. 15