Сканирующий электронный микроскоп ZEM18 способствует исследованию износа режущих инструментов и контролю покрытий.
Дата публикации:
2023-08-31
Сканирующий электронный микроскоп ZEM18, разработанный компанией ZEPTOOLS, благодаря своей способности формировать изображения с наноразрешением позволяет чётко визуализировать микроструктуру поверхности режущего инструмента и наглядно оценивать степень его износа в процессе эксплуатации. По сравнению с оптическими микроскопами сканирующий электронный микроскоп обеспечивает значительно большее увеличение, позволяя выявлять мельчайшие изменения в области режущей кромки на уровне миллиметров и даже субмиллиметровых масштабов, а также оценивать степень износа инструмента.
Наша страна является крупнейшим производителем в сфере обрабатывающей промышленности; по объёмам выпуска и числу эксплуатируемых станков с ЧПУ мы занимаем первое место в мире. В процессе высокоточной обработки характеристики режущего инструмента непосредственно определяют качество обработки. Для повышения режущих свойств инструменты часто подвергают различным видам покрытий. Однако при длительной работе на высоких скоростях износ неизбежно проявляется: режущая кромка постепенно тупится, что напрямую снижает точность обработки. Одновременно с этим покрытия могут трескаться и отслаиваться, что также приводит к повреждению инструмента. Поэтому быстрая и точная оценка степени износа режущей кромки и целостности покрытия играет ключевую роль в обеспечении качества обработки.
Однако традиционные методы затрудняют эффективную проверку режущей кромки инструмента и его покрытия. С помощью невооружённого глаза или оптического микроскопа трудно выявить мелкие изменения на режущей кромке. Кроме того, даже при оценке состояния режущего инструмента исключительно на основе параметров резания сохраняется определённая неопределённость. Что касается покрытий, то лишь визуальным методом крайне трудно определить однородность их толщины и характер сцепления с основным материалом. Для этого необходима эффективная методика, позволяющая осуществлять визуальный контроль как режущей кромки инструмента, так и самого покрытия.






Рис. ZEM18 — наблюдение за повреждённым режущим инструментом
Разработанный компанией ZEPTOOLS собственными силами Настольный сканирующий электронный микроскоп ZEM18 Благодаря своей способности получать изображения с наноразрешением, Позволяет чётко визуализировать микроструктуру поверхности режущего инструмента и наглядно оценивать степень его износа в процессе эксплуатации. По сравнению с оптическим микроскопом сканирующий электронный микроскоп позволяет получать изображения с гораздо более высоким увеличением, что обеспечивает возможность наблюдения мельчайших изменений в области режущей кромки на уровне миллиметров и даже субмиллиметровых масштабов, а также оценки степени износа инструмента.


Рис. Проведение контроля покрытия на ZEM18
Более того, Сканирующий электронный микроскоп ZEM18 также может быть оснащён энергодисперсионным спектрометром (EDS). Можно проводить элементный анализ состава материалов, используемых для нанесения покрытий на поверхность режущего инструмента. По сравнению с простым микроскопическим исследованием сканирующий электронный микроскоп позволяет количественно оценивать толщину и равномерность покрытия, а также изучать характер сцепления покрытия с основным материалом, обеспечивая контроль технологического процесса и гарантию качества при обработке поверхностей режущих инструментов.
Сканирующий электронный микроскоп ZEM18 обеспечивает интегрированный и быстрый анализ износа режущего инструмента и покрытий, существенно повышая эффективность контроля и уровень управления качеством.

Рис. Настольный сканирующий электронный микроскоп ZEM18 компании ZEPTOOLS
Связанные новости