【Характеризация морфологии и состава полупроводников】Электронный микроскоп ZEM18 содействует контролю качества печатных плат и управлению технологическими процессами
Дата публикации:
2023-11-02
По мере стремительного развития индустрии электронной информации печатные платы (PCB), являясь важной составной частью электронных изделий, напрямую влияют на их эксплуатационные характеристики и надёжность. Однако в процессе производства и эксплуатации на печатных платах нередко возникают дефекты — ненадёжное пайка, короткие замыкания, обрывы цепей, неравномерные зазоры между трассами и др. Для повышения качества печатных плат необходимо осуществлять их комплексную проверку и строгий контроль качества.
По мере стремительного развития индустрии электронной информации печатные платы (PCB), являясь важной составной частью электронных изделий, напрямую влияют на их эксплуатационные характеристики и надёжность. Однако в процессе производства и эксплуатации на печатных платах нередко возникают дефекты — ненадёжное пайка, короткие замыкания, обрывы цепей, неравномерные зазоры между трассами и др. Для повышения качества печатных плат необходимо осуществлять их комплексную проверку и строгий контроль качества.
В настоящее время оптическая микроскопия остаётся основным методом контроля печатных плат, однако из‑за ограничений разрешения трудно выявить мелкие дефекты размером в микрометры и даже субмикрометры. В свою очередь, разработанные компанией Zeyou Technology сканирующие электронные микроскопы серии ZEM обладают наноразрешением, позволяют чётко отображать тонкую структуру поверхности печатной платы и обеспечивают визуализацию дефектов, связанных с качеством изделий.
В области контроля паяных соединений электронный микроскоп ZEM18 позволяет при высоком увеличении визуализировать поверхностную морфологию паяных точек и характер распространения припоя, выявляя такие дефекты, как холодное спаивание, пустоты в пайке и неполное спаивание, что служит основой для обеспечения качества пайки печатных плат. В сфере контроля трассировок электронный микроскоп ZEM18 отображает ширину и межтрассовое расстояние, а также позволяет проверять наличие коротких замыканий или обрывов проводников. Кроме того, в комплектацию ZEM18 входит система энергодисперсионного анализа (EDS), которая позволяет проводить элементный анализ состава припоя и выявлять возможные отклонения в его химическом составе.
Электронный микроскоп ZEM18 применяется не только для контроля готовой продукции, но и для обеспечения качества на этапе производства печатных плат. Например, с помощью него можно проводить съёмку и анализ поперечного среза платы, оценивая характер соединения между внутренними медными слоями, пропитанным материалом и гальваническим медным покрытием, что служит основой для оптимизации технологического процесса изготовления печатных плат. Фотографии повреждённых резисторов позволяют выявить проблемы с качеством пайки между выводами резистора и платой. Снимки поперечного среза гальванического покрытия платы помогают оценить адгезию между внутренними и внешними медными слоями, а фотографии паяных соединений — исследовать морфологию поверхности пайки и состав припоя.
Высокое разрешение изображений и функция элементного анализа электронного микроскопа ZEM18 обеспечивают визуализацию процессов производства печатных плат и контроля качества, повышают эффективность управления производственными процессами и способствуют выпуску печатных плат более высокого качества.
Связанные новости
Свяжитесь с нами
Телефон:15756003283
Электронная почта:support@zeptools.com
Адрес: провинция Аньхой, город Тунлинь, Электронный парк предпринимательства «Дунши», д. 15