Отраслевые новости-ZEPTOOLS- это научно‑инструментальная фирма

Новости и информация

ИНФОРМАЦИЯ О НОВОСТЯХ

Как устранить эффект зарядки образца в настольном сканирующем электронном микроскопе?

Для устранения эффекта зарядки образцов при работе с настольным сканирующим электронным микроскопом и обеспечения высокого качества изображений необходимо соблюдать ряд рекомендаций по подготовке образцов и проведению экспериментов.

2024

Как выбрать напряжение для настольного сканирующего электронного микроскопа?

При выборе ускоряющего напряжения для стационарного сканирующего электронного микроскопа (СЭМ) необходимо учитывать множество факторов, чтобы оптимизировать качество изображений и удовлетворить требования анализа.

2024

Какое значение сопротивления позволяет обходиться без электропроводящего покрытия в стационарном сканирующем электронном микроскопе?

При исследовании непроводящих образцов с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ) обычно необходимо принимать меры, обеспечивающие баланс зарядов на поверхности образца, поскольку такие образцы под воздействием пучка электронов легко подвергаются эффекту заряжения, что приводит к искажению изображения, появлению локальных засветов или потере деталей.

2024

Можно ли с помощью настольного сканирующего электронного микроскопа фотографировать клетки?

Табличный сканирующий электронный микроскоп (SEM) можно использовать для получения изображений клеток, однако следует учитывать, что он не пригоден для наблюдения за живыми клетками.

2024

Нужно ли напылять золото при работе с настольным сканирующим электронным микроскопом?

При работе с термостатическим сканирующим электронным микроскопом (SEM) в случае возникновения проблем с разрядами обычно требуется проводить напыление золота на образец. Это обусловлено тем, что при наблюдении в SEM некондуктивных или слабопроводящих образцов под воздействием пучка электронов на их поверхности накапливается электрический заряд, что приводит к так называемому «эффекту заряжения».

2024

Демонстрация применения стержня для проведения ОПЭМ‑анализа в условиях атмосферы в режиме in situ компании «ZEPTOOLS»

Инженеры компании «ZEPTOOLS» с помощью самостоятельно разработанного стержня для проведения in situ‑экспериментов в режиме ТЭМ успешно зафиксировали динамические изменения структуры окислительно‑восстановительных металлических катализаторов при различных условиях.

2024

< 1...17 18 19...55 >

Свяжитесь с нами

tel +86-400-966-2800

Телефон:15756003283
Электронная почта:support@zeptools.com
Адрес: провинция Аньхой, город Тунлинь, Электронный парк предпринимательства «Дунши», д. 15

Консультации онлайн +

Лицензия на ведение деятельности

COOKIES

Наш веб-сайт использует файлы cookie и аналогичные технологии, чтобы персонализировать показываемую вам рекламу и помочь вам получить максимальное удовольствие от посещения нашего веб-сайта. Для получения дополнительной информации ознакомьтесь с нашей Политикой конфиденциальности и использования файлов cookie.

COOKIES

необходимый

Эти файлы cookie необходимы для основных функций, таких как оплата. Стандартные файлы cookie невозможно отключить, и они не сохраняют никакой вашей информации.

анализировать

Эти файлы cookie собирают информацию, например о том, сколько людей используют наш сайт или какие страницы популярны, чтобы помочь нам улучшить качество обслуживания клиентов. Отключение этих файлов cookie будет означать, что мы не сможем собирать информацию для улучшения вашего опыта.

Особенность

Эти файлы cookie позволяют веб-сайту обеспечивать расширенную функциональность и персонализацию. Они могут быть установлены нами или сторонними поставщиками, чьи услуги мы добавили на наши страницы. Если вы не разрешите использование этих файлов cookie, некоторые или все эти службы могут работать некорректно.

рекламировать

Эти файлы cookie помогают нам понять, что вас интересует, чтобы мы могли показывать вам релевантную рекламу на других веб-сайтах. Отключение этих файлов cookie будет означать, что мы не сможем показывать вам персонализированную рекламу.