Главная
Продукт
Сканирующий электронный микроскоп
DMD‑литографический аппарат без маски
Электронно-лучевой литограф EBL
Ступенчатый инструмент
Текущие решения TEM
Нанометрическая станция
Приложения
Случай применения
Новости компании
Техническая информация
О ZEPTOOLS
О компании
Подбор персонала
Свяжитесь
Контактная информация
Онлайн сообщение
Язык
中文简体
English
Russian
Новости и информация
ИНФОРМАЦИЯ О НОВОСТЯХ
Знание продукта
Как проводить анализ порошковых образцов на сканирующем электронном микроскопе
При анализе порошковых образцов на сканирующем электронном микроскопе (СЭМ) необходимо выполнить ряд тщательно продуманных этапов подготовки образца, чтобы обеспечить получение высококачественных изображений и точных данных.
30
2024
/
07
Как осуществлять изображение образцов при низких температурах в сканирующем электронном микроскопе?
29
Полный разбор полуавтоматического ступенчатого прибора JS компании ZEPTOOLS
Ступенчатый профилометр — это высокоточный прибор, предназначенный для измерения мелких различий по высоте на поверхности образца; он широко применяется в материаловедении, полупроводниковой промышленности, нанотехнологиях и других областях.
24
Трёхмерный измеритель ступеней Zeyou Technology JS10B — точное измерение микромира
Ступенчатый измеритель — это высокоточный измерительный прибор, широко используемый в таких областях, как материаловедение, микроэлектроника и нанотехнологии. Ступенчатый измеритель JS10B компании «ZEPTOOLS» благодаря своим выдающимся техническим характеристикам и эксплуатационным свойствам занял лидирующие позиции на рынке.
Как выбрать сканирующий электронный микроскоп? Сравнение настольных и напольных сканирующих электронных микроскопов
В материаловедении, биологии, медицине и промышленности сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) является незаменимым инструментом для изучения микроструктуры материалов; это высокоразрешающий микроскоп, который формирует изображение за счёт сканирования поверхности образца пучком электронов и регистрации отражённых или испущенных электронных сигналов.
22
Может ли настольный сканирующий электронный микроскоп определять состав?
Компактный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) сам по себе в основном предоставляет изображения поверхности с высоким разрешением, однако при использовании специализированных детекторов и аналитических методов он действительно позволяет проводить анализ химического состава.
17