Главная
Продукт
Сканирующий электронный микроскоп
DMD‑литографический аппарат без маски
Электронно-лучевой литограф EBL
Ступенчатый инструмент
Текущие решения TEM
Нанометрическая станция
Приложения
Случай применения
Новости компании
Техническая информация
О ZEPTOOLS
О компании
Подбор персонала
Свяжитесь
Контактная информация
Онлайн сообщение
Язык
中文简体
English
Russian
Новости и информация
ИНФОРМАЦИЯ О НОВОСТЯХ
Знание продукта
Как осуществляется контроль образцовой среды в настольном сканирующем электронном микроскопе?
Настольный сканирующий электронный микроскоп (SEM) обычно применяется в лабораторных условиях для анализа поверхностной морфологии и структуры образцов. Хотя настольные SEM, как правило, не обладают столь же мощными возможностями контроля окружающей среды, как крупные установки SEM, всё же можно принять ряд мер для оптимизации условий наблюдения за образцом.
28
2023
/
08
Как избежать и устранить артефакты и искажения на изображениях, полученных методом СЭМ?
На изображениях, полученных с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ), артефакты и искажения могут затруднять интерпретацию и анализ данных. Ниже приведены некоторые методы предотвращения и устранения артефактов и искажений на СЭМ‑изображениях.
25
Как в сканирующем электронном микроскопе избежать и уменьшить влияние эффекта зарядки?
Эффект зарядки в сканирующем электронном микроскопе (СЭМ) — это распространённое явление: при облучении образца электронным пучком взаимодействие между пучком и поверхностью образца приводит к накоплению электрического заряда, что вызывает эффект зарядки и ухудшает качество изображения и его интерпретацию.
Подготовка биологических образцов для сканирующей электронной микроскопии: этапы от заморозки и нарезки до металлизации
Сканирующий электронный микроскоп (SEM) широко применяется при исследовании биологических образцов, однако для их наблюдения в SEM требуется соответствующая подготовка. Ниже приведён общий порядок действий — от заморозки и нарезки до металлизации — позволяющий подготовить биологический образец к анализу в сканирующем электронном микроскопе.
23
Техника подготовки образцов к сканирующей электронной микроскопии: предотвращение повреждений образца и загрязнения его поверхности
При подготовке образцов к сканирующей электронной микроскопии крайне важно избегать повреждений образца и загрязнения его поверхности, поскольку эти факторы могут негативно сказаться на качестве изображений и интерпретации данных СЭМ. Ниже приведены некоторые рекомендации по подготовке образцов, которые помогут предотвратить их повреждение и загрязнение.
Каково время формирования изображения у настольного сканирующего электронного микроскопа?
Время получения изображения на настольном сканирующем электронном микроскопе (SEM) зависит от множества факторов, включая выбранные увеличение и размер сканируемой области, свойства образца, а также параметры режима съёмки. Как правило, время формирования изображения может варьироваться в зависимости от следующих факторов:
22