Главная
Продукт
Сканирующий электронный микроскоп
DMD‑литографический аппарат без маски
Электронно-лучевой литограф EBL
Ступенчатый инструмент
Текущие решения TEM
Нанометрическая станция
Приложения
Случай применения
Новости компании
Техническая информация
О ZEPTOOLS
О компании
Подбор персонала
Свяжитесь
Контактная информация
Онлайн сообщение
Язык
中文简体
English
Russian
Новости и информация
Знание продукта
Роль ускоряющего напряжения в сканирующем электронном микроскопе
В сканирующем электронном микроскопе (СЭМ) ускоряющее напряжение является крайне важным параметром, оказывающим влияние на качество изображения и разрешение.
06
2023
/
11
Краткий обзор составных частей и принципа работы сканирующего электронного микроскопа (SEM)
Сканирующий электронный микроскоп (Scanning Electron Microscope, SEM) — это микроскопическое устройство, позволяющее исследовать морфологию поверхности и внутреннюю структуру образцов. Он осуществляет точечное сканирование поверхности образца сфокусированным пучком электронов и на основе сигналов, возникающих при различных взаимодействиях между образцом и электронным пучком, формирует на экране двумерное изображение образца.
03
Как проводить анализ поверхностной топографии и морфологии в сканирующем электронном микроскопе
Проведение анализа поверхностной топографии и морфологии на сканирующем электронном микроскопе (SEM) является распространённым методом, позволяющим изучать микроструктуру и морфологические особенности поверхности образца.
Что такое функции автоматической фокусировки и автоматического маркирования в сканирующем электронном микроскопе?
Автоматическая фокусировка и функция автоматического маркирования в сканирующем электронном микроскопе (SEM) являются составной частью современных систем SEM и предназначены для повышения удобства эксплуатации и эффективности анализа.
Ограничения по размеру и типу образцов для настольного сканирующего электронного микроскопа
Столешные сканирующие электронные микроскопы (SEM) обычно имеют определённые ограничения по размеру и типу образцов; хотя эти ограничения варьируются в зависимости от модели и производителя, ниже приведены некоторые общие соображения.
02
Как проводить элементный анализ и спектральный анализ с помощью настольного сканирующего электронного микроскопа?
Настольные сканирующие электронные микроскопы обычно позволяют проводить элементный анализ и спектральный анализ, что зачастую требует использования энергодисперсионного спектрометра.